日立紫外可見分光光度計(jì)U-4100簡單介紹
日立U-4100型紫外可見分光光度計(jì)是產(chǎn)品,可實(shí)現(xiàn)足以令“日立光度計(jì)品牌”自豪的精度。該諂范雜讜謔導(dǎo)使?fàn)C逖芳觳夥矯嫘枰咧柿渴蕕撓沒?,例冉悮枥^蹇ⅰ⒐庋а泛托虜牧狹煊虻撓沒Ф?,视H羆訓(xùn)難≡瘛Ⅻbr />
日立紫外可見分光光度計(jì)U-4100詳細(xì)介紹
日立U-4100型紫外可見分光光度計(jì)是產(chǎn)品,可實(shí)現(xiàn)足以令“日立光度計(jì)品牌”自豪的精度。該產(chǎn)品對于在實(shí)際固體樣品檢測方面需要高質(zhì)量數(shù)據(jù)的用戶,例如半導(dǎo)體開發(fā)、光學(xué)樣品和新材料領(lǐng)域的用戶而言都是不錯的選擇。
該系統(tǒng)的陣容可滿足各種波長和各種尺寸待測樣品的檢測需求,并可通過結(jié)合各種特殊的附件來滿足不同的分析需要,例如用于檢測透過率和反射率的組件,以及可以極低的噪音水平在紫外區(qū)檢測的積分球。
日立紫外可見分光光度計(jì)U-4100儀器特點(diǎn)
U-4100型紫外可見分光光度計(jì)在檢測固定樣品方面性能十分出色,可精確地檢測極化屬性。此圖顯示的是一束YAG激光在入射角為45°時(shí)所檢測的反射率,體現(xiàn)了以微加工機(jī)為鏡面產(chǎn)生的S-偏光和P-偏光光線的反射特性。兩種偏光的反射率在1064nm時(shí)均接近100%。
在光學(xué)元件的制造中,獲得精確的偏光特性指標(biāo)十分重要。
日立紫外可見分光光度計(jì)U-4100技術(shù)參數(shù)
| 項(xiàng)目 | U-4100 |
| 波長范圍 | 175 至 2,600nm |
| 分光器 | 棱鏡-光柵或光柵-光柵型雙分光器 |
| 檢測器 | 光電倍增管(UV-VIS):冷卻型PbS(NIR) |
| 樣品倉 | 樣品倉在機(jī)身頂部,與臺面同高,可容納內(nèi)超大型樣品:倉內(nèi)尺寸為 |
| 尺寸(分光光度計(jì)主機(jī)) | 730(W)x 800(D)x 880(H)mm(用于大型樣品的材料室) |
| 重量 | 120kg |
| 電源消耗 | 100, 115, 220, 230, 240V 交流 50/60Hz 500VA |
































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