產(chǎn)品概述

HAST試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、高濕等加速壽命信賴性試驗(yàn)，適用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測(cè)試其制品的密封性和老化性能。

產(chǎn)品特性

內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計(jì)，可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受過(guò)熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果；采用高效真空泵，使箱內(nèi)達(dá)到純凈飽和蒸汽狀態(tài)；

采用7寸真彩式觸摸屏，擁有99組4950段程序，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，RS-485通訊接口；

采用干濕球傳感器直接測(cè)量(控制模式分為:干濕球、不飽和、濕潤(rùn)飽和等3種模式)。

執(zhí)行試驗(yàn)方法與標(biāo)準(zhǔn)

·GB 10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

·IEC 68-2-14試驗(yàn)N

·GB 11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

·GJB 150.3-86/150.4-86

·GB 10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

·GB 2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)

·A:低溫試驗(yàn)方法;

·GB 2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A

·GB 2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)

·B:高溫試驗(yàn)方法;

·GB 2423.2高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B

·GB 2423.22溫度變化試驗(yàn)，試驗(yàn)N

產(chǎn)品參數(shù)

*注：各參數(shù)尺寸及外觀根據(jù)客戶要求量身定做

我們保留修改技術(shù)參數(shù)的權(quán)利