1. 直流定點源測：可設(shè)定固定電壓或電流向外輸出，同步采集被測件電壓、電流數(shù)值；四線測阻模式可抵消引線導(dǎo)線阻值帶來的測量偏差，完成高低阻元件阻值測算。

2. 脈沖激勵測試：脈寬、脈沖間隔可自定義設(shè)置，短時通電模式可以減少器件發(fā)熱造成的參數(shù)偏移，適配功率器件瞬態(tài)電性采集。

3. 階梯 / 斜波掃描：自定義步進參數(shù)自動完成電壓或電流連續(xù)掃描，同步存儲全段 I-V 數(shù)據(jù)，生成器件伏安特性數(shù)據(jù)。

4. 負載工況模擬：支持恒壓、恒流、恒定電阻三種負載制式，模擬器件帶載功耗、靜態(tài)漏電參數(shù)測試。

三、雙通道控制邏輯

四、通訊、腳本與擴展能力

1. 硬件通訊接口：標配 USB2.0、LXI 以太網(wǎng)、GPIB、RS232、數(shù)字 I/O 觸發(fā)口，另配專用 TSP-Link 級線；前面板 USB 口可外接 U 盤存儲測試腳本、原始測量數(shù)據(jù)。

2. 指令兼容：同時支持 SCPI 通用程控指令與 TSP 自研腳本指令，內(nèi)置 2400 系列源表指令仿真，原有 2400/2636A 設(shè)備編寫的測試程序可直接移植沿用。

3. TSP 腳本運行：測試腳本存儲在儀器機身內(nèi)部，可脫離上位電腦自動循環(huán)執(zhí)行多步驟測試工序，適配產(chǎn)線批量篩選、循環(huán)老化試驗。

4. 多機擴展組網(wǎng)：依靠 TSP-Link 總線串聯(lián)多臺設(shè)備，統(tǒng)一受一套程序管控，按需拓展多路測試通道，無需額外機箱框架。

5. 數(shù)據(jù)緩存：機身內(nèi)置大容量存儲，可緩存一百萬組讀數(shù)，單機采集速率 20000 讀數(shù) / 秒，短時連續(xù)記錄瞬態(tài)測試數(shù)據(jù)。

6. 遠程操控：自帶網(wǎng)頁端控制面板，電腦瀏覽器輸入設(shè)備 IP 即可遠程啟停測試、調(diào)取數(shù)據(jù)；兼容移動端配套軟件，便攜設(shè)備直連完成簡易 I-V 測試。

五、自檢與保護配置

1. 接線接觸檢測：開啟功能后儀器自動排查接線開路、虛接故障，異常狀態(tài)下停止功率輸出并彈窗提示，減少無效測試數(shù)據(jù)。

2. 多層硬件防護：各通道獨立配置過壓、過流、超功率、過熱四項硬件保護，參數(shù)觸達設(shè)定閾值后自動切斷輸出，降低待測器件擊穿連帶儀器受損概率，保護限值支持手動自定義設(shè)置。

六、常規(guī)應(yīng)用場景

1. 半導(dǎo)體元器件：MOSFET、二極管、TVS、小功率 IGBT 的閾值電壓、反向漏電流、導(dǎo)通電阻、雪崩特性 I-V 測試；芯片待機功耗、IDDQ 漏電測試。

2. 光電元件：各類 LED、激光二極管、小型光伏片的光電轉(zhuǎn)換參數(shù)、伏安特性、功率點測試。

3. 材料科研：納米薄膜、導(dǎo)電材料、低阻合金、高阻絕緣材料的電阻率、霍爾參數(shù)、微弱漏電測量。

4. 電化學(xué)小件：紐扣電池、薄膜儲能試樣小電流充放電、腐蝕特性電性監(jiān)測。