高精度硅片測厚儀
應(yīng)用領(lǐng)域 多種適用場景
用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度準(zhǔn)確測量;
對金屬箔片、鋁箔片、銅箔片等硬質(zhì)材料厚度準(zhǔn)確測量;
接觸式測試原理可更有效地檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值;
通過調(diào)節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積,完成各種紙張、紙板材料厚度測試。
產(chǎn)品特點展示
微電腦控制
微電腦控制、大液晶顯示,高精度傳感器,保證了測試精度,嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標(biāo)定制
硅片測厚儀頭自動升降
測量頭自動升降,手動、自動雙重測量模式,更方便客戶選擇,標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備
使用方便
配備微型打印機,數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計,自動保存多組測試結(jié)果,提供測試結(jié)果圖形統(tǒng)計分析、方便打印每次測量結(jié)果,方便用戶分析數(shù)據(jù)
配置齊全
測厚儀手動進樣,儀器可配置自動進樣器進行自動測試,配備標(biāo)準(zhǔn) RS232 接口,方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸(通訊軟件選配)
高精度紡織物測厚儀測試原理
測厚儀采用接觸式測試原理,截取一定尺寸試樣,測厚儀測量頭自動降落于試樣之上,依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值。
技術(shù)參數(shù):
測量范圍:0-2mm(其他量程可定制)
分辨率:0.1μm
測量速度:10 次 / 分(可調(diào))
接觸面積:50mm2(薄膜),200mm2(紙張);注:薄膜、紙張任選一種
進樣步矩:0 ~ 1300 mm(可調(diào))(選配功能)
進樣速度:0 ~ 120 mm/s(可調(diào))(選配功能)
外形尺寸:450mm×340mm×390mm
重量:18kg






































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