橫河AQ6374光譜分析儀

1、行業(yè)全波段覆蓋，打破場(chǎng)景設(shè)備割裂痛點(diǎn)

實(shí)現(xiàn)350nm~1750nm超寬波長(zhǎng)覆蓋，同時(shí)包含可見光380~780nm與光通信850/1310/1550nm核心波段，無需更換設(shè)備即可完成LED可見光測(cè)試與高速光通信器件檢測(cè)，解決傳統(tǒng)設(shè)備波段單一、多設(shè)備切換繁瑣的行業(yè)問題。

2、高精度波長(zhǎng)解析，兼顧色彩與通信雙重標(biāo)準(zhǔn)

具備±0.05nm高精度波長(zhǎng)準(zhǔn)確度，搭配0.05nm最小分辨率與2pm超高采樣精度，既可精準(zhǔn)測(cè)算LED色溫、顯色指數(shù)等色彩參數(shù)，也可精準(zhǔn)量化光模塊波長(zhǎng)偏移、光譜帶寬，同時(shí)滿足消費(fèi)光電與光通信行業(yè)精度標(biāo)準(zhǔn)。

3、60dB動(dòng)態(tài)范圍，適配高低功率混合信號(hào)測(cè)試

搭載60dB峰值動(dòng)態(tài)范圍，功率測(cè)試區(qū)間覆蓋+20~-80dBm，可同時(shí)捕捉高功率可見光光源與低功率通信微弱光譜信號(hào)，有效過濾底噪干擾，清晰還原弱邊模、低幅值光譜細(xì)節(jié)，適配多品類光電器件混合測(cè)試場(chǎng)景。

4、集成專業(yè)色彩分析，實(shí)現(xiàn)光電一體化測(cè)試

內(nèi)置專屬色彩分析算法，支持色溫、CRI顯色指數(shù)、光譜色溫分布等LED核心參數(shù)自動(dòng)運(yùn)算，是少數(shù)同時(shí)具備通信光譜分析與可見光色彩校準(zhǔn)的專業(yè)OSA，一站式滿足照明、顯示、光通信多領(lǐng)域測(cè)試需求。

5、高速掃描采樣，大幅提升量產(chǎn)測(cè)試效率

支持0.5s快速掃描測(cè)試，支持100001點(diǎn)超高采樣點(diǎn)數(shù)，寬波段掃描無卡頓、數(shù)據(jù)采集高密度，適配產(chǎn)線大批量LED燈珠、可見光激光、常規(guī)光器件快速篩查，兼顧科研高精度與量產(chǎn)高效率。

6、高兼容適配性，適配多規(guī)格光學(xué)器件

支持800μm大芯徑光纖輸入，兼容常規(guī)單模、多模光纖與準(zhǔn)直光源測(cè)試，適配LED、可見光激光器、光纖器件、高速光模塊等不同規(guī)格產(chǎn)品，測(cè)試適配范圍廣，設(shè)備通用性。

7、穩(wěn)定可靠易擴(kuò)展，適配自動(dòng)化系統(tǒng)集成

內(nèi)置氫/基準(zhǔn)光源，支持一鍵自校準(zhǔn)，長(zhǎng)期測(cè)試精度穩(wěn)定；標(biāo)配LAN、USB、GPIB通用接口，可無縫對(duì)接自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，適配長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)測(cè)試與批量質(zhì)檢場(chǎng)景。

光電&光通信細(xì)分場(chǎng)景價(jià)值

1、可見光光電測(cè)試：全面檢測(cè)LED燈珠、背光光源、顯示屏光源的光譜、色溫、顯色指數(shù)，滿足照明與顯示行業(yè)品質(zhì)校準(zhǔn)需求。

2、可見光激光器件測(cè)試：精準(zhǔn)測(cè)試650nm、780nm等可見光激光器光譜線寬、功率穩(wěn)定性、邊模特性，保障激光器件性能一致性。

3、常規(guī)光通信器件測(cè)試：適配850/1310/1550nm光模塊、FP/DFB激光器、WDM器件的光譜、波長(zhǎng)、邊模抑制比常規(guī)檢測(cè)。

4、科研前沿光學(xué)研究：支撐超快光學(xué)、熒光光譜、材料光學(xué)特性測(cè)試，超寬波段高精度采樣，滿足科研數(shù)據(jù)采集標(biāo)準(zhǔn)。

5、光電一體化量產(chǎn)質(zhì)檢：一站式完成照明、激光、光通信器件混合品類批量檢測(cè)，精簡(jiǎn)測(cè)試設(shè)備，降低產(chǎn)線投入成本。

橫河AQ6374核心精簡(jiǎn)賣點(diǎn)

1、350~1750nm全域波段，可見光+光通信一機(jī)通用

2、±0.05nm高精度，同時(shí)滿足色彩校準(zhǔn)與光通信合規(guī)測(cè)試

3、集成專業(yè)色彩分析功能，光電一體化測(cè)試能力

4、高速掃描+高兼容適配，兼顧科研研發(fā)與批量量產(chǎn)質(zhì)檢