雙波段紅外發(fā)射率測試儀-材料涂層遠(yuǎn)紅外放射率分析儀IR-2

雙波段紅外發(fā)射率測試儀-材料涂層遠(yuǎn)紅外放射率分析儀IR-2
發(fā)射率是材料熱物性的基本參數(shù)之一。近幾年來隨著紅外技術(shù)、輻射傳熱學(xué)、輻射測量、太陽能研究、材料科學(xué)以及軍事目標(biāo)穩(wěn)身技術(shù)的發(fā)展。 新型發(fā)射率測量儀是采用反射率法的測試原理，即通過采用主動黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率，進而測出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率的。雙波段紅外發(fā)射率測試儀-材料涂層遠(yuǎn)紅外放射率分析儀IR-2能測量常溫樣品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三個波段的發(fā)射率。當(dāng)有特殊需要時，雙波段紅外發(fā)射率測試儀-材料涂層遠(yuǎn)紅外放射率分析儀IR-2可通過專用的控溫裝置在-100℃~600℃任何溫度范圍內(nèi)加熱或冷卻樣品，從而對樣品進行發(fā)射率變溫測量。

雙波段紅外發(fā)射率測試儀-材料涂層遠(yuǎn)紅外放射率分析儀IR-2特點：

1.儀器中裝有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源和六位高精度微機控溫儀（能顯示到1mK）不僅使它具有穩(wěn)定的寬光譜測量范圍，而且還極大地提高了其在測量時的可靠性和穩(wěn)定性。

2.采用獨特的光學(xué)調(diào)制技術(shù)，測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。

3.為了確保儀器的測量精度，在儀器設(shè)計中，考慮到樣品漫反射引起的測量誤差，除鏡反射（MR）探通道外，還增設(shè)了專門的漫反射（DR）補償通道。

4.在信號及電子學(xué)處理技術(shù)上采用鎖相技術(shù)和微電子技術(shù)，較好地實現(xiàn)了對微弱信號的探測，進一步提高了儀器性能。

5.操作簡單，使用方便，測量速度快。

6.可按需更換濾光片，在多個紅外光譜波段內(nèi)進行測試。

7.在測量過程是不會損傷被測樣品。

8.帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。

雙波段紅外發(fā)射率測試儀主要技術(shù)指標(biāo)：

1.測量波段3～5μm，8～14μm、1～22μm（若用戶有特殊要求，可定制不同波段濾光片）

2.發(fā)射率測量范圍：0.1～0.99

3.靈敏度NE△ε：0.001

4.示值誤差：±0.02（ε>0.50）

5.重復(fù)性：±0.01

6.樣品溫度：常溫(-100℃～600℃）

7.樣品尺寸：直徑≥50mm

8.測量時間：3秒

9.顯示方法：LED數(shù)字顯示，末位0.001

10.電源：交流22V  50Hz