中檢智測臺式X射線熒光光譜儀ZM-XAA-1-A0是基于X射線熒光光譜技術(shù),通過激發(fā)樣品產(chǎn)生特征X射線熒光,進而實現(xiàn)非破壞性檢測,不改變樣本形態(tài)的情況下,實現(xiàn)元素成分的分析。分析過程分三個階段:
激發(fā):當高能X射線照射樣品時,會擊出原子內(nèi)層(如K層或L層)電子形成電子空位使原子處于不穩(wěn)定激發(fā)態(tài)。
電子躍遷:不穩(wěn)定狀態(tài)下,外層電子躍遷以填bu內(nèi)層空位,躍遷過程中釋放特征X射線光子。
元素分析:每種元素的特征X射線具有特定能量值(如Fe的Ka=6.40keV),通過測量這些特征能量實現(xiàn)元素定性分析,信號強度與元素含量成正比,實現(xiàn)定量分析。











































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