儀器簡介：
梅特勒-托利多XP/XS精密天平快速安全的滿足所有稱量需求。其中，XP精密天平具有全面的質量管理工具(QM)，滿足質量保證的要求，特別適合于例如制藥行業(yè)的嚴格法規(guī)環(huán)境。而XS精密天平，配合其創(chuàng)新選件，為快速高效的稱量過程設立了全新標準。

主要特點：
采用高速單模塊傳感器(MonoBloc^HighSpeed)，以的速度準確稱量結果，具有良好的抗沖擊、抗過載性能；
具有中文界面的TFT彩色觸摸屏(SmartScreen)或觸摸屏(TouchScreen)，實現(xiàn)安全、便捷的天平操作；
紅外感應器(SmartSens)^*，實現(xiàn)無需用手接觸的稱量操作：開關門、打印、去皮等；
水平控制系統(tǒng)(LevelControl)^*，在天平偏移水平位置時提供警告提示功能；
專業(yè)級全自動校準技術(proFACT)或全自動校準技術(FACT),溫度漂移和時間觸發(fā)的自動內置砝碼校正和線性校正，獲得精確稱量結果；
最小稱量值(MinWeigh)功能，提供符合法規(guī)的稱量幫助(需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現(xiàn)場設置激活)；
天平校驗功能(BalanceCheck)^*，自動提示用戶使用外部砝碼校正天平，確保稱量結果始終準確；
顯示屏塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕；
標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網(wǎng)、LocalCAN、RS232和PS/2通訊接口選件插槽，方便連接打印機、電腦等外圍設備；
符合GxP規(guī)范的稱量結果輸出，獲得完整的、可追溯的稱量信息；
GWPExcellence^TM一體化安全功能，確保天平始終正確工作；

*僅XP天平

技術參數(shù)：
XP精密天平：量程210g~64100g，可讀性0.0001g~1g
XS精密天平：量程210g~32100g，可讀性0.001g~1g