安捷倫E4990A頻段區(qū)分：

• 010：20 Hz ~ 10 MHz

• 020：20 Hz ~ 20 MHz

• 030：20 Hz ~ 30 MHz

• 050：20 Hz ~ 50 MHz

• 120：20 Hz ~ 120 MHz（配置）

2. 頻率基礎(chǔ)參數(shù)

• 頻率分辨率：1 mHz

• 時(shí)基精度：標(biāo)配 ±7 ppm；選件 1E5 高穩(wěn)定時(shí)基 ±1 ppm

• 掃描模式：線性、對(duì)數(shù)、自定義列表掃描

• 掃描點(diǎn)數(shù)：2 ~ 1601 點(diǎn)可調(diào)

3. 測速選件 001（僅 010/020/030/050 機(jī)型適配）

   單頻點(diǎn)采集 1.3 ms，縮短批量掃描耗時(shí)。

三、測量精度與阻抗量程

1. 基礎(chǔ)測量精度

• 阻抗幅值基礎(chǔ)誤差：±0.08%，典型實(shí)測 ±0.045%

• 相位測量誤差：±0.05°

• Q 值誤差：Q=100 條件下典型 ±3%

2. 有效阻抗覆蓋區(qū)間（10% 誤差范圍內(nèi)）

   25 mΩ ~ 40 MΩ，兼顧低阻電感、高阻電容、高阻值材料測試是德科技K...。

四、交流激勵(lì)信號(hào)參數(shù)

1. 激勵(lì)電壓

   范圍：5 mVrms ~ 1 Vrms，調(diào)節(jié)步進(jìn) 1 mV

2. 激勵(lì)電流

   范圍：200 μArms ~ 20 mArms，調(diào)節(jié)步進(jìn) 20 μA

3. 配套功能：自動(dòng)電平控制 ALC，穩(wěn)定被測件輸入激勵(lì)電平，避免元件非線性帶來測量偏差。

五、內(nèi)置直流偏置源（標(biāo)準(zhǔn)配置）

• 偏置電壓：0 ~ ±40 V，步進(jìn) 1 mV

• 偏置電流：0 ~ ±100 mA，步進(jìn) 40 μA

  可疊加交流測試信號(hào)，完成帶直流偏置下電容、電感、半導(dǎo)體器件阻抗掃描Keysight。

六、支持全部測量輸出參數(shù)

1. 阻抗 / 導(dǎo)納：|Z|、阻抗相角 θz、|Y|、導(dǎo)納相角 θy、復(fù)數(shù)阻抗、復(fù)數(shù)導(dǎo)納

2. 等效元件：串聯(lián) / 并聯(lián)電容 Cs/Cp、串聯(lián) / 并聯(lián)電感 Ls/Lp、串聯(lián) / 并聯(lián)電阻 Rs/Rp

3. 損耗與品質(zhì)：損耗因子 D、品質(zhì)因數(shù) Q

4. 電平監(jiān)測：交流激勵(lì)電壓 Vac、交流激勵(lì)電流 Iac、直流偏置 Vdc、直流偏置 IdcKeysight

七、硬件測試端口與適配夾具

1. 標(biāo)準(zhǔn)測量架構(gòu)：四端對(duì)測試，降低引線寄生參數(shù)影響，小元件測量更穩(wěn)定

2. 拓展接口適配：

• 搭配 42942A 配件：單端口 7mm 接口，完成接地器件測試

• 搭配 42941A 阻抗探頭：完成板載貼片元件、接地元器件原位測量

3. 端口輸出特性：低輸出阻抗，適配各類測試治具、探針臺(tái)、測試盒。

八、核心分析功能

1. 七類等效電路擬合

   自動(dòng)提取元件等效模型參數(shù)，分離寄生電阻、寄生電感、漏電容，用于元件建模仿真。

2. 極限判定測試

   可設(shè)置多組上下限閾值，掃描過程自動(dòng)判定良品 / 不良品，產(chǎn)線快速分揀。

3. 平均降噪

   多點(diǎn)平均功能，降低微弱信號(hào)軌跡噪聲，提升小信號(hào)測量穩(wěn)定性。

4. 觸發(fā)控制

   內(nèi)置外部觸發(fā)輸入，脈沖寬度≥2 μs，可搭配自動(dòng)化設(shè)備同步采集數(shù)據(jù)。

九、顯示與操作

• 屏幕：10.4 英寸彩色觸控液晶

• 軌跡顯示：同時(shí)開啟 4 條測量曲線，分屏對(duì)比不同偏置、不同激勵(lì)電平下元件特性

• 本地操作：觸控面板 + 實(shí)體按鍵，曲線縮放、游標(biāo)讀數(shù)、參數(shù)一鍵切換。

十、通訊與數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

1. 通訊接口：LAN、USB、GPIB，兼容通用程控指令，可對(duì)接 PC 自動(dòng)化測試程序

2. 存儲(chǔ)能力：本地保存掃描曲線、校準(zhǔn)文件、等效模型參數(shù)，支持導(dǎo)出 CSV 格式數(shù)據(jù)用于離線分析。

十一、環(huán)境與供電基礎(chǔ)條件

1. 工作溫度區(qū)間：0 ℃ ~ 50 ℃，參考校準(zhǔn)溫區(qū) 15 ~ 35 ℃

2. 存儲(chǔ)溫區(qū)：-20 ℃ ~ 70 ℃

3. 供電：寬電壓交流輸入，適配實(shí)驗(yàn)室常規(guī)供電環(huán)境。

十二、典型適用測試對(duì)象

1. 無源器件：各類電容、功率電感、磁珠、電阻、晶體諧振器、變壓器

2. 半導(dǎo)體元件：二極管、MOS 器件、射頻芯片直流偏置下阻抗特性

3. 電磁材料：鐵氧體、介質(zhì)基材、吸波材料介電 / 磁導(dǎo)率測試

4. PCB 與互連：走線阻抗、板材損耗、貼片元件在線檢測

5. 消費(fèi)電子、通信元器件來料品質(zhì)篩查。

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