儀器介紹：

JT-607C鍍層測(cè)厚儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度的鍍層測(cè)厚儀，C型開槽設(shè)計(jì)樣品腔，讓其滿足了既可測(cè)量超微小樣品的檢測(cè)，同時(shí)還可滿足超過樣品腔尺寸的大工件測(cè)量。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。是一款擁有多種準(zhǔn)直器（0.05mm、0.1mm、0.2mm、0.5mm）自動(dòng)切換的高精密度X射線熒光光譜測(cè)厚儀。適合小面積電鍍層、重復(fù)鍍層、凹凸不平樣品測(cè)試。

儀器特點(diǎn)：

1）搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線發(fā)生器和的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，可測(cè)量各微小的部件

最小測(cè)量面積達(dá)0. 002mm2

2) 擁有無損變焦檢測(cè)技術(shù)，手動(dòng)變焦功能，可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm

3) 核心EFP算法，可對(duì)多層元素，包括同種元素在不同層都可快·準(zhǔn)·穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準(zhǔn)檢測(cè)層Ni和第三層Ni的厚度）

4) 配備高精密微型移動(dòng)滑軌，可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位，多樣品的精準(zhǔn)位移和同時(shí)檢測(cè)

5) 可同時(shí)分析23個(gè)鍍層，24中元素，測(cè)量元素范圍：氯CL  (17) ---鈾U （92），涂鍍層分析范圍：氯CL (17)/鋰Li---鈾U (92),涂鍍層檢出限：0.005μm

6) 人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

7) 標(biāo)配為兩個(gè)準(zhǔn)直器任意選擇一種，最小測(cè)量面積可達(dá)0.002mm2

8) 配有微光聚焦技術(shù)，最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度小于10%

相關(guān)產(chǎn)品：

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