一.BEST-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)概述：
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據的處理和測量控制，解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據值的報表分析.
二.適用行業(yè)：:
用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據.
雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
三.型號及參數(shù)：
規(guī)格型號    FT-351A    FT-351B    FT-351C
方塊電阻范圍     10-5～2×105Ω    10-6～2×105Ω    10-4～1×107Ω
電阻率范圍    10-6～2×106Ω-cm    10-7～2×106Ω-cm    10-5～2×108Ω-cm
測試電流范圍    0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA    1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA    10mA?---200pA
電流精度    ±0.1%讀數(shù)    ±0.1讀數(shù)    ±2%
電阻精度    ≤0.3%    ≤0.3%    ≤10%
PC軟件界面    顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
測試方式    雙電測量
四探針儀工作電源    AC 220V±10%.50Hz  <30W 

誤差    ≤3%（標準樣片結果    ≤15%
溫度(選購)
    常溫 --400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃
氣氛保護（氣體客戶自備）    常用氣體如下：氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn)，均為無色、無臭、氣態(tài)的單原子分子
溫度精度    沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
升溫速度：    常溫開始400℃--800℃需要15分鐘；800℃-1200℃需要30分鐘；1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘
高溫材料    采用復合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征
PC軟件
    測試PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據！ 
電極材料     鎢電極或鉬電極 
探針間距 
    直線型探針，探針中心間距：4mm；樣品要求大于13mm直徑
標配外（選購）：
    電腦和打印機1套；2.標準電阻1-5個

高溫電源：
    供電：400-1200℃ 電源220V，功率4KW；380V;1400℃-1600℃電源380V；功率9KW：

配套方案：解決各材料狀態(tài) --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀 電阻、電阻率、電導率測量