納米白光干涉儀 表面細(xì)微三維形貌測量系統(tǒng)基于白光干涉儀原理、結(jié)合Z向精密壓電掃描模塊和三維重建算法準(zhǔn)確獲 得各種精密器件和材料表面形貌數(shù)據(jù),適用于反 射率0.05%-99%、超光滑至粗糙等多種表面測量求,能夠?qū)崿F(xiàn)納米級精度測量、重構(gòu)表面形 貌3D輪廓。

納米白光干涉儀 表面細(xì)微三維形貌測量技術(shù)參數(shù):
型號:PZ-Mico D
測試技術(shù): 3D相干掃描干涉法,抗震算法,移相干涉法
光源:固態(tài)白光光源,軟件控制切換光譜(VSI和PSI)
掃描裝置:精密壓電陶瓷驅(qū)動,閉環(huán)反饋電容控制精密壓電陶瓷
像素分辨率:1280X1024
視場: 10倍范圍1200X950
縱向掃描范圍:25mm
橫向分辨率:0.05-2.68µm
軸向分辨率:VSI:0.5nmPSI:0.1nm
臺階高度精度(示值誤差)±0.1nm(5µm標(biāo)準(zhǔn)臺階)
臺階高度重復(fù)性:0 . 1%1σ(5µm標(biāo)準(zhǔn)臺階
粗糙度 RMS 2
粗糙度RMS重復(fù)性:0.01nm
被測樣品反射率:0.05%-99%
Z軸:電動Z平臺100mm,1μm分辨率)
位移臺:電控平臺移動范圍XY:100x100mm


產(chǎn)品細(xì)節(jié)



應(yīng)用范圍


































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