ImLD-B半導(dǎo)體式中空玻璃露點(diǎn)儀是根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 11944—2002規(guī)定的技術(shù)條件制造的一種儀器。用于檢測(cè)中空玻璃試樣內(nèi)表面在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定條件和方法情況下是否結(jié)露。
應(yīng)用領(lǐng)域:大專院校、科研單位、中空玻璃生產(chǎn)、使用單位以及相關(guān)檢測(cè)單位。
技術(shù)指標(biāo)
1. 測(cè)量探頭工作溫度:≤-40℃
2. 測(cè)量探頭直徑:50mm
3. 數(shù)顯溫度計(jì)測(cè)量范圍:-80℃~ 50℃
4. 溫度計(jì)精度:0.1℃
5. 試件尺寸:510mm×360mm
6. 控制箱尺寸:500×300×400(mm) (長(zhǎng)×寬×高)
7. 試驗(yàn)環(huán)境:溫度:23℃±2℃ 相對(duì)濕度:30%~75%R
8. 試驗(yàn)時(shí)間
產(chǎn)品特點(diǎn)
1. 采用半導(dǎo)體二級(jí)制冷的技術(shù),制冷的溫度可以精確設(shè)定和控制,制冷速度快,操作十分方便,不僅可以在試驗(yàn)室內(nèi)使用,而且可在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行檢測(cè),不需要使用容易揮發(fā)的干冰,使用方便且使用成本低廉。
2. 探頭和制冷機(jī)組可實(shí)現(xiàn)分離,方便實(shí)用且不受試件方向限制,
3. 集成了電源、冷卻、循環(huán)和控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)全過(guò)程自動(dòng)控制,機(jī)箱和探頭由軟管連接,檢測(cè)時(shí)探頭的工作面與試件接觸,探頭的工作面可以為任意方向。




































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