GDS-200晶振綜合參數(shù)測(cè)試儀是一款用于檢測(cè)石英晶體振蕩器各項(xiàng)性能參數(shù)的測(cè)試設(shè)備。該儀器采用DDS直接數(shù)字合成技術(shù)和矢量阻抗分析算法，可精確測(cè)量晶振的諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、等效串聯(lián)電阻（ESR）、動(dòng)態(tài)電容、靜態(tài)電容等關(guān)鍵參數(shù)。

主要技術(shù)參數(shù)：

1. 頻率測(cè)量范圍：1Hz～12GHz

2. 頻率分辨力：0.001Hz

3. 頻率測(cè)量精度：±0.1ppm

4. ESR測(cè)量范圍：1Ω～100kΩ

5. 激勵(lì)功率：0.1μW～10mW可調(diào)

6. 負(fù)載電容：1pF～52pF可編程設(shè)定

7. 測(cè)量速度：≤0.3秒/次

產(chǎn)品特點(diǎn)：

- 7寸觸摸屏顯示，操作直觀便捷

- 支持IEC60444標(biāo)準(zhǔn)全參數(shù)測(cè)量

- 內(nèi)置SPC統(tǒng)計(jì)過程控制功能

- 支持USB/LAN/GPIB多種通信接口

- 數(shù)據(jù)可導(dǎo)出CSV/Excel格式

- 溫度補(bǔ)償晶體時(shí)基，長(zhǎng)期穩(wěn)定度優(yōu)于±0.1ppm

- 13位/s頻率和四位PPM同時(shí)顯示

- 峰值、谷值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、阿倫方差等參數(shù)測(cè)試

- 設(shè)置參數(shù)狀態(tài)存儲(chǔ)功能

- 可選配GPS馴服鐘模塊，無(wú)需手工校準(zhǔn)

應(yīng)用領(lǐng)域：

廣泛適用于晶體、通信、電力、教學(xué)、科研、鐘表、儀表、工廠、技檢等行業(yè)。GDS-200晶振綜合參數(shù)測(cè)試儀是電子元器件檢測(cè)領(lǐng)域的可靠設(shè)備，適合測(cè)量精度要求高的場(chǎng)合使用。