GDS-70有源晶振綜合測試儀采用矢量阻抗分析法,與傳統(tǒng)傳輸法在測量原理上有本質(zhì)區(qū)別。傳輸法通過在晶體輸入端施加恒定幅度信號(hào),測量輸出端的傳輸響應(yīng),在諧振點(diǎn)處傳輸幅度出現(xiàn)峰值。傳輸法的優(yōu)點(diǎn)是電路簡單,但ESR測量精度受系統(tǒng)阻抗匹配影響大,且無法區(qū)分串聯(lián)諧振和并聯(lián)諧振。矢量阻抗分析儀則通過測量晶體兩端的電壓矢量和電流矢量,直接計(jì)算阻抗幅值和相角,在諧振點(diǎn)處阻抗呈現(xiàn)純阻性。GDS-70有源晶振綜合測試儀的ESR測量精度優(yōu)于±2%,能夠分辨0.1Ω級別的阻抗差異,遠(yuǎn)優(yōu)于傳統(tǒng)傳輸法的±10%精度。
在功能擴(kuò)展方面,矢量阻抗分析法還支持負(fù)阻特性測試和起振裕量評估。負(fù)阻測試通過在晶體回路中逐步增大串聯(lián)電阻,直至振蕩停止,此時(shí)的串聯(lián)電阻值即為晶振在工作電路中的負(fù)阻。起振裕量評估通過比較負(fù)阻與ESR的比值判斷振蕩可靠性。該儀器可自動(dòng)執(zhí)行負(fù)阻測試,幫助評估晶振在具體電路中的起振可靠性。對于需要測量負(fù)載諧振頻率FL的場景,儀器內(nèi)置可編程負(fù)載電容陣列,可在1pF至52pF范圍內(nèi)設(shè)定任意CL值,自動(dòng)測量對應(yīng)條件下的FL。矢量阻抗分析法還支持繪制導(dǎo)納圓圖,直觀展示晶體在諧振點(diǎn)附近的阻抗變化軌跡,幫助理解晶振的工作機(jī)理和等效電路行為。該儀器同時(shí)支持傳輸法測量,用戶可根據(jù)被測晶體類型選擇合適的測量方式。





























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