GDS-70有源晶振頻率檢測儀配合溫控箱可執(zhí)行-55℃至+150℃全溫區(qū)頻率掃描,是評估溫補晶振TCXO和恒溫晶振OCXO溫度特性的重要工具。溫度掃描方案可設(shè)定起始溫度、終止溫度、升降溫速率、保溫時間和采樣間隔。例如設(shè)定從-40℃到+85℃,升降溫速率2℃/分鐘,每10℃保溫10分鐘后采樣,儀器將自動完成全程測試并繪制頻率溫度特性曲線。GDS-70有源晶振頻率檢測儀可計算零溫度系數(shù)點(頻率變化率下限的溫度點)和總頻差(全溫區(qū)內(nèi)的頻率偏差范圍),幫助驗證晶振的溫度性能是否滿足設(shè)計要求。
對于TCXO器件,溫度特性測試可驗證補償電路是否正常工作。理論上TCXO經(jīng)過溫度補償后,全溫區(qū)頻率偏差應(yīng)控制在±2ppm以內(nèi)。如果實測結(jié)果超出該范圍,說明補償電路存在異常,需要排查溫度傳感器或補償算法。對于OCXO器件,溫度特性測試可評估恒溫槽的控溫效果。該儀器在溫度掃描過程中實時記錄頻率數(shù)據(jù),繪制頻率-溫度曲線和數(shù)據(jù)表格。測試完成后自動生成溫度特性報告,報告包含測試條件、溫度-頻率數(shù)據(jù)表和特性曲線圖。對于需要編寫器件評估報告或數(shù)據(jù)手冊的場景,該儀器可直接導(dǎo)出報告模板,減少人工編寫工作量。儀器的溫控箱選件支持液氮制冷和電加熱兩種方式,制冷速率可達5℃/分鐘,滿足快速溫度循環(huán)測試需求。





























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