GDS-70有源晶振參數(shù)檢測儀的老化率測試功能用于評(píng)估晶振的長期頻率穩(wěn)定度。石英晶體在長期工作中，由于應(yīng)力釋放、質(zhì)量遷移和密封性變化等因素，頻率會(huì)產(chǎn)生緩慢漂移，這種現(xiàn)象稱為老化。GDS-70有源晶振參數(shù)檢測儀可執(zhí)行24小時(shí)至30天的連續(xù)監(jiān)測，以可配置的采樣間隔（1分鐘至1小時(shí)）記錄頻率變化。測試完成后，儀器通過線性回歸計(jì)算日均老化率，并繪制頻率漂移趨勢圖。對(duì)于恒溫晶振OCXO，日均老化率通常在±1E-9至±1E-10量級(jí)；對(duì)于溫補(bǔ)晶振TCXO，日均老化率通常在±1E-7至±1E-8量級(jí)。

老化率測試需要嚴(yán)格控制環(huán)境條件，要求環(huán)境溫度波動(dòng)不超過±1℃，供電電壓穩(wěn)定度優(yōu)于±0.1%。該儀器可選配溫控裝置，為被測晶振提供穩(wěn)定的溫度環(huán)境。儀器在老化率測試過程中自動(dòng)記錄環(huán)境溫度數(shù)據(jù)，便于分析溫度波動(dòng)對(duì)頻率漂移的影響。測試完成后生成老化率報(bào)告，報(bào)告包含測試時(shí)段、采樣間隔、頻率數(shù)據(jù)序列、日均老化率值和漂移趨勢曲線。對(duì)于GPS馴服鐘和銣鐘模塊的老化評(píng)估，儀器可選配銣原子頻率標(biāo)準(zhǔn)作為參考時(shí)基，參考頻率準(zhǔn)確度優(yōu)于5E-11，滿足高精度頻率源的老化測試需求。該儀器支持多通道老化率測試，可同時(shí)監(jiān)測4路被測器件，提升測試效率。測試數(shù)據(jù)可通過CSV格式導(dǎo)出，便于使用專業(yè)統(tǒng)計(jì)軟件進(jìn)行深度分析。