測量技術(shù)：
1）IV/IVL特性：IV和IVL曲線是針對OLED和OPV標(biāo)準(zhǔn)的量測手法，通過曲線可以得到樣品的電流電壓特性關(guān)系、電流電壓與光強(qiáng)的特性關(guān)系；
*對于有機(jī)半導(dǎo)體材料可通過空間電荷限制電流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和遷移率等；|
2）瞬態(tài)光電流響應(yīng)法（Transient Photocurrent ）：研究載流子動(dòng)力學(xué)過程和載流子密度等；
3）瞬態(tài)光電壓（Transient Photovoltage）：研究載流子壽命和復(fù)合過程；
4) 雙脈沖瞬態(tài)光電流（Double Transient Photocurrent）：分析電荷載流子俘獲動(dòng)態(tài)過程；
5) 暗注入瞬態(tài)法（Dark Injection）：對于單載流子器件和OLED，研究其載流子遷移率；
6) 電壓脈沖法（Voltage Pulse）：串聯(lián)電阻、幾何電容和RC效應(yīng)分析；
7) 暗態(tài)線性增壓載流子瞬態(tài)法（Dark-CELIV）：參雜濃度、相對介電常數(shù)、串聯(lián)電阻、電荷載流子遷移率測量；
8) 光照線性增壓載流子瞬態(tài)法（Photo-CELIV）：提取有機(jī)太陽能電池片內(nèi)載流子遷移率mobility ，以及載流子濃度分析等；
9) 時(shí)間延遲線性增壓載流子瞬態(tài)法（Delaytime-CELIV）：復(fù)合動(dòng)態(tài)過程分析和郎之萬復(fù)合因子分析等；
10）注入線性增壓載流子瞬態(tài)法（Injection-CELIV）：電荷載流子濃度和電荷載流子遷移率測量分析；
11）MIS-CELIV：幾何電容和相對介電常數(shù)分析；
12）阻抗譜測量（Impedance Spectroscopy）：器件等效電路分析等；
13）電容頻率測量法（C-f）: 遷移率、陷阱、幾何電容和串聯(lián)電阻測量；
14）電容電壓測量法（C-V）：內(nèi)建電壓、參雜濃度和幾何電容等測量；
15）瞬態(tài)電致發(fā)光測試（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的載流子，磷光壽命測量；

另外，我公司提供專業(yè)太陽能測試設(shè)備制造商為客戶提供全套專業(yè)的設(shè)備：

1.太陽能電池光譜響應(yīng)測試系統(tǒng)、IPCE測試系統(tǒng)、量子效率測試系統(tǒng)；
2.太陽能電池測量系統(tǒng)（光譜響應(yīng)測試系統(tǒng),IPCE測試系統(tǒng),量子效率測試系統(tǒng)，I-V曲線測量系統(tǒng)），太陽能電池測試儀；
3.太陽能電池I-V曲線測量系統(tǒng)；
4.I-V 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)；
5.大面積太陽能模擬器/太陽光模擬器/全光譜太陽光模擬器；
6.太陽能電池分選機(jī)；
7.太陽能電池I-V測試儀；
8.分光輻射度計(jì)，
9.參考電池/標(biāo)準(zhǔn)電池，
10.太陽能模擬器均勻性圖像分析系統(tǒng)；
11.有機(jī)太陽能電池載流子遷移率測量系統(tǒng)；
12.鈣鈦礦太陽能電池載流子遷移率測量系統(tǒng)；
13.太陽能電池少數(shù)載流子測量系統(tǒng)；