布魯克原子力顯微鏡FastScan（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension  Icon 超高的分辨率和的儀器性能前提下，大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。

功能特點(diǎn)：布魯克原子力顯微鏡FastScan

◆采用低熱漂移的針尖掃描AFM技術(shù)，提高了系統(tǒng)的固有振動(dòng)頻率。

◆應(yīng)用新的NanoScope控制器，為機(jī)器提供了更高的帶寬。

◆開發(fā)了小懸臂的生產(chǎn)工藝，在空氣中共振頻率為1.3MHz，在液體中共振頻率為250KHz到500KHz。

◆采用了低噪音的機(jī)械和電子的主要部件，結(jié)合高共振頻率X-Y-Z掃描管，在技術(shù)上獲得了重大突破。

◆更高的帶寬提供了精確的力控制和高掃描速度，結(jié)合高精度的閉環(huán)控制，在效率上遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其它任何商業(yè)化的AFM。

◆以20Hz掃描速度進(jìn)行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高，即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會(huì)降低。

◆在ScanAsyst模式中，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片，即使掃描速度達(dá)到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。

◆Z方向，探針在Contact模式中移動(dòng)速度可達(dá)到12mm/s，同時(shí)在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動(dòng)速度達(dá)到2.5mm/s， X-Y方向的跟蹤誤差<1%，真正使Fastscan成為了世界上*臺(tái)快速掃描AFM。

◆自動(dòng)的激光和檢測器的調(diào)節(jié)使得實(shí)驗(yàn)的組建更為快速有效。

◆系統(tǒng)使用自帶的樣品導(dǎo)航軟件MIRO，利用光學(xué)成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內(nèi)分辨并抓取納米級的樣品特征。

◆的光學(xué)系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針，在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下，得到的激光信號調(diào)節(jié)。

◆針尖掃描系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與210mm大尺寸樣品臺(tái)結(jié)合，消除了樣品尺寸的限制，同時(shí)維持了低的噪音和熱漂移水平。