OSP薄膜測量儀，l于測量PCB/PW板的銅鉑表面的OSP厚度。作為使用分光反射法的非破壞性光學(xué)測量儀，它可提供平均厚度和詳細的3D平面輪廓資料，使得實時檢測無需任何的樣品制備。
  由于ST4080-OSP具有測量很小面積與自動聚焦功能，適用于PCB基板表面的實模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度測量技術(shù)，而它在半導(dǎo)體，平板顯示與其他電子材料行業(yè)方面的可靠性得到了證實。

  為什么要選擇 ST4080-OSP?

  ST4080-OSP使用反射測量法提供PCB/PWB表面OSP涂層厚度的非接觸和非破壞性實時測量。
  ST4080-OSP 無需樣品制備，可確保快速和簡便操作。
  ST4080-OSP測量的光斑尺寸可減小到0.135，這使得它可測量表面粗糙的銅的OSP涂層厚度.
  ST4080-OSP 與紫外可見分光計，受迫離子束方法，時序電化學(xué)還原分析還有其他的測量方法相比較，它基于更可靠的測量技術(shù)。
  ST4080-OSP 可獲取420nm~640nm范圍內(nèi)的多波長光譜。
  ST4080-OSP可提供各點和它們的平均厚度的詳細數(shù)據(jù)，這樣可幫助人們更好地控制OSP質(zhì)量。
  ST4080-OSP 通過3D表面形態(tài)學(xué)將測量程序*化。
 在電路行業(yè)，有機可焊性保護膜（OSP）涂層的使用對保護銅表面防止氧化是必需的。
關(guān)于RoHS指令，該保護膜涂層要求無鉛適用，易加工和低成本。它的標(biāo)準(zhǔn)厚度測量范圍是0.1~0.5μm。
ST4080-OSP 通過分析基板上薄膜表面的反射光和基板表面的反射光之間的光譜干涉來測量薄膜厚度。ST4080-OSP 同時測量多個光斑，并以輪廓形式顯示厚度測量結(jié)果。
ST4080-OSP有兩種光學(xué)透鏡。用戶可使用5倍的光學(xué)透鏡方便地進入詳細模式的自選區(qū)域，再通過使用50倍的光學(xué)透鏡獲取詳細厚度輪廓。

波長范圍  420nm ~ 640nm 
厚度測量范圍  350 ~ 3
zui小光斑尺寸  1.35, 0.135
目標(biāo)面積  864X648 / 86.4X64.8
物鏡轉(zhuǎn)動架  5X（spot size 20）, 50X（spot size 0.2） 
測量層  1 
固定樣臺面積  270mm（L） X 240mm（D） 
Z軸再現(xiàn)性  ± 1
自動Z裝置  Z direction Head Movement  深圳瑞環(huán)希望與廣大客戶建立更緊密的合作、提供更*的服務(wù)，共同描繪美好的發(fā)展
：*    深圳市寶安區(qū)寶安大道鹽田商務(wù)廣場A座421室