Agilent安捷倫E5574A回損測試儀
資料
± 0.005 dB的偏振相關損耗精度
± 2.2%的功率精度
內置的基于光纖的偏振控制器可以涵蓋所有國家的兩極分化
1250至1660納米
包括GPIB接口雙波長激光光源,光學頭81000A。
E5574A光損耗分析儀是一個完整的解決方案,主動和被動光學元件的損耗/增益特性。在觸摸一個按鈕,你可以衡量您的設備的總損失的各種捐助 - ,都聚集在一個負擔得起的儀器。這是特別優(yōu)化的偏振相關增益測量。無論你是易于使用在板凳上或在生產(chǎn)車間,與zui高的質量和測量速度的手動應用來說,這種光損耗分析儀是*的工具。
E5574A光損耗分析儀提供了靈活的解決方案。可以訂購各種法布里 - 珀羅激光源。對于席卷波長測量,外部可調激光光源或白色光源也可以。
一個尾纖的光輸出提供具有zui高性能的偏振相關損耗測量。兩個其他客戶交換連接器為直線或直角接觸連接器的接口選項,提供的靈活性。光學頭的選擇涵蓋800至1700之間27和- 90dBm的波長和功率水平。 1250和1600 nm之間的PDL測量的*性能,81521B選件001光學頭應該被使用。




































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