UTX900 X熒光光譜儀
| 主要應(yīng)用范圍: 輕元素分析,元素分析可從Na至UROHS有害元素檢測(cè) 材料分析和鍍層厚度(膜厚)測(cè)量鍍液分析、黃金等貴金屬鑒定 | |
| X射線管: 50W(4-50KV 0 -1.0mA)標(biāo)配 75W(4-50KV 0 -1.5mA)可選 | |
| 探測(cè)器: 硅鋰半導(dǎo)體探測(cè)器 | 濾光器: 一次濾光 |
| 準(zhǔn)直器: Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm,多種準(zhǔn)直器可選 | |
| 樣品觀察: CCD高精度彩色攝像頭 | 對(duì)焦系統(tǒng): 利用旋鈕視覺(jué)對(duì)焦 |
| 測(cè)量方向: 從下向上 | 樣品臺(tái): 固定樣品臺(tái),超大式樣室 |
| 可測(cè)元素: Na到U | 測(cè)試時(shí)間: 元素含量:60-300s |
| 元素含量分析指標(biāo):分析范圍:1PPM-99.99% | 準(zhǔn)確度:5% |
| 精確度:0.1% | 檢出限:1PPM |
| 鍍層厚度的檢測(cè)指標(biāo):準(zhǔn)確度:*層5%,第二層10% | 精確度:0.1% |
| 檢出限:0.01μm | 測(cè)試軟件: 基本參數(shù)法 |
| 定性功能: 自動(dòng)標(biāo)示存在元素 | |
| 定量功能: 出廠前完成標(biāo)定曲線,客戶直接測(cè)試,無(wú)需標(biāo)樣 | |
| 報(bào)告結(jié)果: 自動(dòng)生成 | 數(shù)據(jù)處理: MS-EXCE |



























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