高精度轉(zhuǎn)速表  型號：TC-HG-1803

zui齊全的轉(zhuǎn)速測量功能；*的多周期平均等時測周法設(shè)計，保證全量程范圍內(nèi)同等精度；嚴格按規(guī)范設(shè)計，五位有效數(shù)字浮點顯示；數(shù)據(jù)自動存儲、回放；超大液晶屏幕讀數(shù)，功能菜單顯示；超低功耗設(shè)計；可連接三角架，便于長時間連續(xù)精確監(jiān)測，配備信號輸出端口，滿足特定工作要求；電池電量實時顯示，匱電自動報警；人性化造型設(shè)計，美觀小巧，操作簡便，重量輕；產(chǎn)品系列化，多種型號可滿足您不同的測量環(huán)境。該產(chǎn)品已批量出口

產(chǎn)品名稱：圖像冠層分析儀 植物冠層分析儀 產(chǎn)品型號：TG-SL02

圖像冠層分析儀 植物冠層分析儀型號： TG-SL02 
功能介紹： 
一、TG-SL02 圖像冠層分析儀：功能   

 廣泛于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學中農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析。能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等。 

二、TG-SL02 圖像冠層分析儀：原理和圖像冠層分析儀：方法 

  TG-SL02 圖像冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。 

三、TG-SL02 圖像冠層分析儀：特點 

1.非破壞性地測定冠層結(jié)構(gòu) 

2.可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR） 

3.手持式萬向接頭自動水平調(diào)整探頭， 

4.隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍 

5.由計算機電池提供電源極其輕便、便于觀測，尤其適合完成野外繁重的觀測任務 

6. 圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域（天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū)）。對不同方向的冠層進行區(qū)域性分析時，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分（如缺株、邊行問題等）。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件  

7.通過USB接口直接將測點圖像顯示在計算機上，可以在野外即時觀察圖像，選擇合理的測點，將圖像存貯。 

8.半球圖象上可以設(shè)計任何地點、任何時間的太陽視運動軌跡，以及冠層內(nèi)任意時刻的受光狀況。 

四、圖像冠層分析儀：技術(shù)參數(shù) 

1.鏡頭角度：150° 

2.分辨率：768×494pix 

3.測量范圍：天頂角由0°～75°（150°魚眼鏡頭）可分割成十個區(qū)域，方位角360°亦可分割成十個區(qū)域。 

4．PAR感應范圍：感應光譜400～700nm。   測量范圍0～2700μmol/m2•s 

5.分析軟件：專業(yè)AWOS-SL02軟件。 

6.顯示和內(nèi)存：7英寸華碩筆記本。 

7.電 池：電腦電池。 

8.傳輸接口：USB 

9.工作溫度：0～55℃

高精度轉(zhuǎn)速表/轉(zhuǎn)速表

普通磨料堆積密度測定儀型號：JB/T7984.2-1999

一、產(chǎn)品概述： 
根據(jù)標準ISO9136：1989《粗磨粒 堆積密度的測定》和行業(yè)標準JB／T7984.2-1999《普通磨料 粗磨粒堆積密度的測定》的相關(guān)技術(shù)要求研制生產(chǎn)的檢測儀器，于檢測制造固結(jié)磨具和涂附磨具的粗顆粒普通磨料的堆積密度，也于檢測其它顆粒狀材料的堆積密度。其檢測方法與結(jié)果和上通用的檢測方法具有*的通用性。  
二、工作原理  
將待測的磨料裝入漏斗，打開排放閥，磨料順著漏斗的下端口自然下落并流入到測量筒中，將落入到測量筒中的磨料刮平，在天平上稱取刮平后測量筒中的磨料質(zhì)量，再除以測量筒的容積，就可以測出待測磨料的堆積密度。  
三、技術(shù)參數(shù)  
1、測量誤差：≤±0.02g／cm3。 
2、測量筒容積：200±0.5cm3  
3、外形尺寸：230mm（長）×250mm（寬）×425mm（高）