雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀 型號(hào):H17300
| H17300型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合(亦稱雙位組合)測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量,能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正,因此顯著降低了幾何因素影響,從而提高了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。所有這些,用目前大量使用的常規(guī)四探針測(cè)量方法所生產(chǎn)的儀器是無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。 | ||||||||||||||||||||||||
H17300型雙電測(cè)四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,通過(guò)此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
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北京恒奧德儀器儀表有限公司
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地址:北京市海淀區(qū)阜成路42號(hào)院6號(hào)C-21
2.手持式數(shù)字式四探針測(cè)試儀/手持式四探針測(cè)試儀/四探針電阻測(cè)試儀 型號(hào):HADM-2
手持式數(shù)字式四探針測(cè)試儀/手持式四探針測(cè)試儀/四探針電阻測(cè)試儀 型號(hào):HADM-2
HADM-2型手持式數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測(cè)試臺(tái)。
主機(jī)主要由數(shù)控恒流源,高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用一旋鈕輸入;具有零位、滿度自校功能;全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用!
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配探頭,也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見(jiàn) 表2《四探針探頭型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》點(diǎn)擊進(jìn)入
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率
電 阻: 0.010 ~ 9999Ω, 分辨率0.001 ~ 1 Ω
電 阻 率: 0.010~ 2000Ω-cm, 分辨率0.001 ~ 1 Ω-cm
方塊電阻: 0.050~ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ~ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定
直 徑:HAD/SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm。
HAD/SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。
長(zhǎng)(高)度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級(jí)
量程(Ω-cm/□) | 9.999 | 99.99 | 999.9 | 9999. |
電阻測(cè)試范圍 | 0.010~9.999 | 9.99~99.99 | 99.99~999.9 | 999.9~9999 |
電阻率/方阻 | 0.010/0.050~9.999 | 9.99~99.99 | 99.99~999.9 | 999.9~2000 |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB | ||
4) 適配器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電
5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重:≤0.5kg


























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