無錫高低溫試驗箱符合標(biāo)準
GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗A規(guī)程:低溫試驗方法
GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗B規(guī)程:高溫試驗方法
GJB150.3-1986高溫試驗
GJB150.4-1986低溫試驗
GJB1032-90環(huán)境應(yīng)力篩選方法
無錫高低溫試驗箱試驗功能特點
目的:加速應(yīng)力試驗 加速壽命試驗 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(ESS)
試驗標(biāo)準:MIL-STD-202 MeTSod 107 IEC60749-25 JEDEC JESD22-A104-b IEC68-2-1 MIL-STD-2164-85
試驗方法:溫度沖擊試驗 溫度循環(huán)試驗
試驗環(huán)境:比使用環(huán)境更嚴酷 極限使用環(huán)境
試樣:零部件 元器件,焊點(BGA,CSP) 成品
試樣尺寸:小比較大
試驗溫度范圍:-40(-55)~125(150)℃、 -40(-65)~125(150)℃、 -40(-0)~100℃
型號規(guī)格
型號 TS-80 內(nèi)形尺寸D×W×H 400×400×500
※型號TS -225 內(nèi)形尺寸D×W×H 500×600×750
※型號TS-500 內(nèi)形尺寸D×W×H 700×800×900
※型號TS -800 內(nèi)形尺寸D×W×H 800×1000×1000
※型號TS -1000 內(nèi)形尺寸D×W×H 1000×1000×1000
溫度變化率:
1槽法:大于30℃/分鐘 (空氣)
2槽法:大于50℃/分鐘 (空氣)
1槽法:小于15℃/分鐘 (試樣)
1槽法:小于20℃/分鐘 (空氣)
加速系數(shù):
100~500倍
比加速試驗加速系數(shù)小 10~20倍
試驗結(jié)果:設(shè)計信息 生產(chǎn)品質(zhì)差異驗證
※溫度沖擊試驗:
1.升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大,同時試驗嚴酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。
2.溫度沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的差異主要是應(yīng)力負荷機理不同。溫度沖擊試驗主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效,而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。
3.溫度沖擊試驗容許使用二槽式試驗裝置;溫度循環(huán)試驗使用單槽式試驗裝置。在二槽式箱體內(nèi),溫度變化率要大于50℃/分鐘。
溫度循環(huán)試驗:
1.溫度循環(huán)就是將試驗樣品曝露于予設(shè)的高低溫交替的試驗環(huán)境中。為避開溫度沖擊影響,試驗時的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。同時,為達到蠕變及疲勞損傷的效果,試驗溫度循環(huán)為25℃~100℃,或者也可根據(jù)產(chǎn)品的用途使用0℃~100℃的循環(huán)試驗,曝露時間為各1 5分鐘。
2.環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(ESS= Environmental Stress Screening):
3.對產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力促使早期失效產(chǎn)品存在的潛在缺陷盡快而予以剔除。ESS不是加速可靠性試驗,主要適用于成品的可靠性篩選試驗。
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