涂層測(cè)厚儀D3性能特點(diǎn)

DIN 50981, 50984

ISO 2178, 2360, 2808

BS 5411 （3, 11） 3900 （c, 5）

ASTM B499, D1400

德國(guó)思創(chuàng)SaluTron 涂層測(cè)厚儀D3性能特征：
技術(shù)參數(shù)

FE/NFE：0-3500μm
- 用于檢測(cè)鋼或鐵上的非磁性覆層厚度，如合成纖維、涂漆、瓷、紅銅、鉻、鋅等覆層；并且用于檢測(cè)紅銅、黃銅、鋁上的所有絕緣覆層的厚度，如漆、合成纖維、瓷、紙、玻璃、橡膠等，包括鋁上的陽(yáng)極氧化物。

- 使用簡(jiǎn)單，自動(dòng)探頭識(shí)別，按照菜單單手即可操作，只需輕輕一放，便可讀出測(cè)量結(jié)果。

- 5mm的大量程。

- 測(cè)量精確度高.分辨率為：

在0.0-99.9μm范圍內(nèi)為0.1μm

在100-999μm范圍內(nèi)為1μm

在1.00-5.0mm范圍內(nèi)為 0.01m
- 帶彈簧的紅寶石探針,具有抵抗性，測(cè)量不受震動(dòng)影響。

- 測(cè)量?jī)x開(kāi)/關(guān)轉(zhuǎn)換可手動(dòng)或自動(dòng)。

- 如果所測(cè)覆層厚度超過(guò)zui大測(cè)程可發(fā)出相應(yīng)的可視警報(bào)。

- 測(cè)量不同的材料不需實(shí)時(shí)重復(fù)校準(zhǔn)。

- V形槽有助于將探頭放到半球形表面上進(jìn)行測(cè)量（如圓木、管子上等）。

- 重復(fù)性：0-1000μm的±μm（1μm±2%）            1001-5000μm的±3.5??

- 示值誤差：±1μm

- zui小曲率半徑：凸：5mm   凹：30mm

- 外觀大小：（長(zhǎng)×寬×高）118×58×38mm 

德國(guó)思創(chuàng)SaluTron 涂層測(cè)厚儀D3配置情況：

   標(biāo)準(zhǔn)配置：便攜式手提袋包括D3覆層測(cè)厚儀、標(biāo)準(zhǔn)片、一個(gè)9V堿性電池和說(shuō)明書(shū)。

   選購(gòu)配置：-RS232連接設(shè)備及整機(jī)箱。（僅D2，D3可選）

                   -數(shù)據(jù)處理軟件。

                  -用于實(shí)地?cái)?shù)據(jù)打印的微型打印機(jī)。