博曼x熒光膜厚測(cè)試儀性能特點(diǎn)
1、上照式
2、測(cè)試組件可升降
3、高精度移動(dòng)平臺(tái)
4、小準(zhǔn)直器
5、高分辨率探頭
6、可視化操作
7、自動(dòng)定位高度
8、自動(dòng)尋找光斑
9、鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)
10、良好的射線屏蔽
11、超大樣品腔設(shè)計(jì)
12、測(cè)試口安全防護(hù)

博曼x熒光膜厚測(cè)試儀是一款設(shè)計(jì)緊湊靈活、功能*的膜厚儀，可以滿足各個(gè)行業(yè)中對(duì)質(zhì)量保證和過程控制的要求。
用*的X射線技術(shù),可高效率低成本,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡易但功能*,可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測(cè)量小到ppm的范圍,即使是較大的測(cè)量樣品也可放在XY(Z)測(cè)量臺(tái)上，拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量。
測(cè)量技術(shù)同行15年，在同測(cè)量領(lǐng)域風(fēng)蚤，成為膜厚儀*，精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)，*的技術(shù)，嚴(yán)格的品質(zhì)要求，可靠、可信、快速的服務(wù)，及一些專業(yè)意見與技術(shù)扶持，值得您的信賴。

: 舒翠 
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