HY(IC)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)設(shè)備
本儀器針對(duì)IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); HY(IC)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)設(shè)備采用先進(jìn)的同步帶傳動(dòng),非接觸式光電計(jì)數(shù),15工位同時(shí)測(cè)量大大提高的儀器的精度和使用壽命。
HY(IC)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)設(shè)備圖片

HY(IC)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)設(shè)備主要技術(shù)參數(shù)
外形尺寸:長(zhǎng)×寬×高(670×380×220mm)
儀器重量:70kg
電壓:AC220V±5%
功率:35W
測(cè)試速度:彎曲30r/min
測(cè)試周期:1~9999次
彎曲度;長(zhǎng)邊20 mm,短邊10 mm
扭曲度:15°±1°雙向
HY(IC)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)設(shè)備產(chǎn)品用途:用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
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公司承諾:
1.購(gòu)機(jī)前,我們專門派技術(shù)人員為您設(shè)計(jì)流程和方案
2.購(gòu)機(jī)后,將免費(fèi)指派技術(shù)人員為您調(diào)試安裝
3.整機(jī)保修一年,產(chǎn)品終身維護(hù)
4.常年供應(yīng)設(shè)備的易損件及耗品確保儀器能長(zhǎng)期使用




































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