HP4192A安捷倫_HP4192A阻抗分析儀、價格

惠普|安捷倫HP阻抗分析儀HP+HP16194A
詳細說明：
頻率范圍：5Hz-13MHz
Agilent低頻阻抗分析儀
Agilent低頻阻抗分析儀對諸如電信濾波器-音頻/視頻電子電路之類的器件和基礎電子元件完成網(wǎng)

絡分析和阻抗分析。對浮點接地器件也可加以測試。
特征：
5Hz~13MHz可變頻率范圍
增益-相位測量：幅度，相位，群延時
浮點或接地器件
標準Agilent-GPIB
Agilent低頻阻抗分析儀對諸如電信濾波器-音頻/視頻電子電路之類的器件和基礎電子元件完成網(wǎng)

絡分析和阻抗分析。
HP掃描測量能力
HP增益相位測量：幅度、相位、群延遲
HP浮動或接地設備
HPHP /Agilent LF (5Hz-13MHz阻抗分析儀)
HP5Hz-13MHz可變頻率范圍
HP增益—相位測量：幅度、相位，群延時
HP浮點或接地器件
HP阻抗測量:|Z|,|Y|,Q,R,X,G,B,L,C,D,Q,Δ, Δ%
HP標準GPIB

技術指標
頻率范圍：5Hz-13MHz
振蕩器電平：5Mv-1.1Mv
直流偏置：0~±35V
測量范圍：1.0000Ω~1.000MΩ
基本精度: ±0.15%
頻率范圍 5Hz~13MHz
頻率步進 0.01Hz(5Hz~10kHz);0.01Hz(10kHz~100kHz);
0.1Hz(100kHz~1MHz),1Hz(1MHz~13MHz)
頻率精度 ±50ppm
振蕩器電平 5mV~1.1Vrms可變，50Ω（幅度-相位測量）或開路（阻抗測量）
振蕩器電平步進 1mV(5mV~100mV);5mV(100mV~1.1V)
電平監(jiān)視（阻抗測量）： 可監(jiān)視穿通電流或端電壓取樣
控制： 通過前面板或agilent-IB進行點頻和掃頻測量
Agilent低頻阻抗分析儀對諸如電信濾波器-音頻/視頻電子電路之類的
器件和基礎電子元件完成網(wǎng)絡分析和阻抗分析。對浮點接地器件也可加以測試。
測量信號 （23°~±5℃）
幅度—相位測量
測量參數(shù) 相對幅度B-A（dB）和相位Q（度或弧度），B-A和群延時；幅度A（dBm或dBV)或B（dBm或

dBV)
和所有參數(shù)的偏移（Δ，Δ%）
參考幅度 0dBV=1Vrms,0dBm=1mW(50Ω負載）
振蕩器輸出電阻： 50Ω
通道A和B： 輸入阻抗：1MΩ±2%，并聯(lián)電容，25pF±5pF
測量精度：（23±5℃）：30分鐘預熱后，在BNC未知終端上的規(guī)定值
B-A（相對幅度）和（θ相位）測量：±0.01dB,±0.05°(-20~0.8dBV輸入，頻率為100~10kHz時）
A，B（幅度）測量： ±0.4dB(-50~0.8dBV輸入，頻率為100~1MHz時
Agilent低頻阻抗分析儀

測量方式
HP定點測量 在規(guī)定的頻率（或直流偏壓）上進行
掃頻測量 從起始頻率到終止頻率（或直流偏壓）的手動或自動掃描（以選擇的步進頻率或直流偏壓）
掃描方式 線性或對數(shù)（只是對頻率）
zui大輸出電壓 ±1V
關鍵狀態(tài)儲存 5種測量狀態(tài)設置可以在任何時間被存儲和調用
agilent-IB數(shù)據(jù)輸出和遙控 標準
自測試 自動自我測量
觸發(fā) 內部，外部、手動或agilent-IB

一般指標
HP測量時間（高速方式）
B-A和θ，A或B： 88~127ms(≥400Hz)
阻抗參數(shù)： 58~91ms(≥1kHz)
測試電平監(jiān)視范圍（阻抗測量）
電壓： 5mV~1.1V
電流： 1μA~11mA
工作溫度：
0°~55℃,在40℃上相對濕度±95%
電源： 100,120,220V±10%,240V+5%~-10%,48~66Hz
,150V Armax
尺寸： 425.5mm(寬）*235mm（高）*615mm(長）（16.5英寸*9英寸*22.6英寸）
重量： 約19kg(41.9磅）