薄膜厚度測試儀 塑料薄膜/薄片自動測厚儀  型號DPCHY-CA
適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量
微電腦控制、液晶顯示
菜單式界面、PVC操作面板
接觸式測量
測頭自動升降
自動進樣
手動、自動雙重測量模式
數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計
顯示大值、小值、平均值和統(tǒng)計偏差
可設進樣步距、測量點數(shù)、進樣速度等參數(shù)
標準接觸面積、測量壓力（非標可選）
顯示大值、小值、平均值和統(tǒng)計偏差
標準量塊標定
RS232接口
網(wǎng)絡傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸
薄膜厚度測試儀器技術指標
測量范圍：0～2mm；0～6mm，12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
　　　　　注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
進樣步距：0～1000mm
進樣速度：0.1～99.9mm/s
電　　源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
凈　　重：32kg

可見分光光度計/分光光度計   型號:DP-WFJ7200/7200
儀器型號    DP-WFJ7200/7200
光學系統(tǒng)   單光束，1200條/毫米衍射光柵
波長范圍   325-1000nm
波長精度   ±2nm
波長重復性   1nm
光度范圍   0-125%T, -0.097-1.999A, 0-1999C(0-1999F)
光度精度   ±0.8%T
雜散光     ≤0.5%T在360nm處
帶寬       5nm
穩(wěn)定性    ±0.004A/h在500nm處
顯示       LED數(shù)碼管
數(shù)據(jù)輸出   串行口
打印機接口   并行口
外形尺寸   470×400×140（mm）
重量       9.5kg

表面式溫度傳感器 溫度傳感器  DP-GWP200-M

靜態(tài)磁滯回線測量儀 回線測量儀 型號：DP-TF-CIA
采用靜態(tài)法測量鐵磁材料的特性參數(shù)。適合教學。
特點：樣品外置，方便更換比較。具有電腦接口；功能齊備的多媒體教學演示和數(shù)據(jù)處理軟件，方便教師開設實驗。
1.磁化電流: 0 - ±3A
2.線圈匝數(shù) > 40
3.樣品外置，方便更換。
4.設有過熱保護裝置。
5.可以描繪 磁滯回線、初始磁化曲線、基本磁化曲線 等
6.內(nèi)含微處理器，程控放大器,
7.通過串口與計算機連接，實時記錄數(shù)據(jù)和曲線；
8.軟件功能豐富,含原理演示、圖形記錄、數(shù)據(jù)處理等。
9.程控放大倍數(shù)：1 – 1000 
10.磁化電流：0 – 3A；
11.測量精度：12位

變溫霍爾效應實驗儀 型號：DP-HT-648
霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數(shù)據(jù)采集和處理在80K-400K溫度范圍內(nèi)對霍爾系數(shù)和電導率的聯(lián)合測量，進行半導體導電機制及散射機制的研究，并可確定半導體的一些基本參數(shù)，如導電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等。        
主要技術指標
1．電磁鐵      0-300mT連續(xù)可調(diào)
2. 勵磁電源     0-5A連續(xù)可調(diào)  可自動換向 穩(wěn)定性﹤±0.1%
3. 數(shù)字特斯拉計  0-2000mT  三位半數(shù)字顯示 分辨率0.001
4. 恒流源輸出   1mA       穩(wěn)定性±0.1%
5. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測量小分辨率1uV
6. 溫度變化測量范圍    80-400K
7. 整套儀器由電磁鐵系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)機箱、測量系統(tǒng)主機、恒溫器四部分組成
8. 探頭樣品采用單晶鍺片