1.數(shù)字式自動(dòng)旋光儀/自動(dòng)旋光儀  型號(hào):HAD-WZZ-3

特點(diǎn)：采用光電檢測(cè)和微機(jī)控制技術(shù)，128X64位元液晶顯示，可測(cè)試比旋度、旋光度、糖度、可自動(dòng)復(fù)測(cè)并計(jì)算均值和均方根，配有RS232接口，可向PC機(jī)傳送數(shù)據(jù)。

技術(shù)參數(shù)： 
   
測(cè)量范圍：-45°~ +45°，-120°Z ~ +120°Z 
小讀數(shù)值：0.001° 
準(zhǔn)確度：±（0.01°+測(cè)量值×0.05%），±（0.03°Z+測(cè)量值×0.05%）
重復(fù)性：≤0.003°，≤0.03°Z 
可測(cè)樣品低透過率：10%
質(zhì)量：28kg 
外形尺寸：600mm×310mm×212mm 

2.側(cè)面光檢測(cè)儀 側(cè)面光測(cè)試儀 型號(hào)：QXH-CM-3

一側(cè)面光檢測(cè)儀 側(cè)面光測(cè)試儀用途

    QXH-CM-3型側(cè)面光檢測(cè)儀是依據(jù)中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB11614-2009《浮法玻璃》要求設(shè)計(jì)，用于檢測(cè)浮法玻璃外觀缺陷的輔助設(shè)備，與外觀檢測(cè)儀配合使用，可以測(cè)試浮法玻璃各種缺陷的數(shù)量和尺寸，是浮法玻璃生產(chǎn)企業(yè)*的質(zhì)檢設(shè)備。

二、側(cè)面光檢測(cè)儀 側(cè)面光測(cè)試儀原理

    QXH-CM-3型側(cè)面光檢測(cè)儀在封閉的燈箱內(nèi)裝有碘鎢燈，燈箱上有一可以開啟的狹縫，玻璃橫插入狹縫向前運(yùn)行，光線從玻璃斷面射入玻璃，由于玻璃上各種缺陷對(duì)光線的漫射，缺陷在玻璃板面上呈現(xiàn)亮點(diǎn)，記下亮點(diǎn)的位置，用外觀檢測(cè)儀和讀數(shù)顯微鏡檢測(cè)缺陷的種類和大小。

三、側(cè)面光檢測(cè)儀 側(cè)面光測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

    1、光源：碘鎢燈  功率：1000W                   

    2、狹縫開啟的大寬度：20㎜

    3、狹縫與光源間距：100㎜

    4、設(shè)備尺寸：1330㎜×750㎜×900㎜

    5、電源：AC.220V

3.壓電加速度傳感器/壓電式壓力傳感器  型號(hào):HAD/8602

4.手動(dòng)涂敷器/薄層制板器/薄層鋪板器  型號(hào)：HAD-III

薄層手動(dòng)涂敷器/手動(dòng)涂敷器/薄層制板器/薄層鋪板器  , 共有三種型號(hào) :

HAD-I 型為涂敷 10cm 寬薄層板，配有一個(gè)小型 10cm

寬涂敷框，制備5x10,10x10,20×10cm薄層板

HAD-II 型為涂敷 20cm 寬薄層板，配有一個(gè)大型 20cm

寬涂敷框，制備板規(guī)格為 5 × 20 、10 × 20

20 ×20cm 薄層板。

HAD-III 涂敷器 綜合了 I 型和 II 型的優(yōu)點(diǎn)和結(jié)構(gòu)方式,

配有一大一小兩種涂敷框，在一個(gè)涂板座上

可完成上述各種規(guī)格薄層板的制備工作 薄層板均能涂敷

材質(zhì)：鋁合金噴塑，*生銹，經(jīng)久耐用。。涂敷框可調(diào)層厚度0.02-2mm。

5. 靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀/靜電場(chǎng)描繪試驗(yàn)儀/導(dǎo)電微晶靜電場(chǎng)描繪儀型號(hào):HAD/GVZ-3

靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀/靜電場(chǎng)描繪試驗(yàn)儀/導(dǎo)電微晶靜電場(chǎng)描繪儀主要技術(shù)參數(shù)：

1.HAD/GVZ-3型為雙層，同步探針，內(nèi)置四種電板（同心圓、平行導(dǎo)線、聚焦、劈尖形或飛機(jī)機(jī)翼電場(chǎng)）。
2.規(guī)格為410mm*240mm,高100mm,K4-2導(dǎo)線。
3.微晶導(dǎo)電層的均勻性，實(shí)驗(yàn)值誤差為小于2%。
4.電源輸出范圍（直流）為7.00v—13.00V，分辨率為0.01V。
5.采用多圈電位器調(diào)節(jié)電壓，調(diào)節(jié)細(xì)度可達(dá)0.01V。

四種電極（配數(shù)碼管電源3位半）
（同心圓R為7cm，r為1cm, 其他電極距離均為10cm）
1． 靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀/靜電場(chǎng)描繪試驗(yàn)儀/導(dǎo)電微晶靜電場(chǎng)描繪儀儀器簡介
本儀器采用各向均勻?qū)щ姷奈⒕?dǎo)電板,在其上面安置一些不同的金屬電極。當(dāng)有直流電流經(jīng)兩個(gè)電極在導(dǎo)電板上通過時(shí)，由于微晶導(dǎo)電板相對(duì)于金屬導(dǎo)體電導(dǎo)率低得多，故在兩個(gè)電極間沿電流線會(huì)存在不同的電勢(shì)，這種不同的電勢(shì)可用數(shù)字電壓表直接測(cè)出來。分析各測(cè)量點(diǎn)電勢(shì)的變化規(guī)律，就可間接地得知相似的靜電場(chǎng)中電勢(shì)分布規(guī)律。
2．使用方法
（1）接線：
靜電場(chǎng)穩(wěn)壓電源輸出+（紅）接線柱用紅色電線連接描繪架（紅）、-（黑）接線柱用黑色電線連接描繪架（黑）接線柱。穩(wěn)壓電源探針輸入+（紅色）接線柱用紅色電線連接探針架連接線柱。將探針架好，并使探針下探頭置于導(dǎo)電微晶電極上，啟動(dòng)開關(guān)，先校正，后測(cè)量。
（2）測(cè)量：
開啟測(cè)量開關(guān)，如數(shù)字顯字為0 V，則移動(dòng)探針架至另一電極上，數(shù)字顯10 V，一般常用10 V，便于運(yùn)算。然后縱橫移動(dòng)探針架，則電源電壓表頭顯示讀數(shù)隨著運(yùn)動(dòng)而變化。如要測(cè)0 V～10 V間的任何一條等勢(shì)(位)線，一般可選0 V～10 V間某一電壓數(shù)據(jù)相同的8～10個(gè)點(diǎn)，再將這些點(diǎn)連成光滑的曲線即可得到此等勢(shì)(位)線。
（3）記錄：
實(shí)驗(yàn)報(bào)告都需要記錄，以備學(xué)生計(jì)算或驗(yàn)證，對(duì)模擬法作深刻研究，則需在描繪架上鋪平白紙，用橡膠磁條吸住，當(dāng)表頭顯示讀數(shù)認(rèn)為需要記錄時(shí)，輕輕按一下，即能清晰記下小點(diǎn)，一般所需記錄電壓請(qǐng)參閱講義或由任課教師定奪，為實(shí)驗(yàn)清晰快捷，每等位線8～10點(diǎn)，然后連接即可。

溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片全都是按照順序相對(duì)應(yīng)的