固體介質(zhì)折射率測定儀

型號；LDX-FD-OE-3

折射率是反映介質(zhì)光學性質(zhì)的重要參數(shù)之一。本儀器采用的實驗方法，在光學測量中具有典型性和基本要求的特點。用測布儒斯特角的方法測量透明介質(zhì)的折射率及利用測量激光照射半導體薄片的反射系數(shù)方法，測量部分半導體如硅、砷化鎵等介質(zhì)的折射率。本儀器具有體積小，重量輕，調(diào)節(jié)方便，裝置牢靠，實驗數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠等優(yōu)點。本儀器可用于基礎(chǔ)物理實驗，設(shè)計性與研究性物理實驗及物理奧林匹克競賽培訓實驗用。本儀器具有以下優(yōu)點：

　　1.采用高強度優(yōu)質(zhì)鋁合金材料制成，表面經(jīng)陽極氧化處理 ,儀器重量輕、體積小、耐用、不會生銹，使用壽命長。

　　2.帶有刻度的轉(zhuǎn)盤經(jīng)精心設(shè)計和加工，轉(zhuǎn)動輕巧靈活，讀數(shù)準確。

　　3.采用數(shù)字式光功率計測量偏振光光強，測量結(jié)果穩(wěn)定可靠。

　　4.有黑色遮光罩擋光，可在明光及通風條件下做光學實驗，在同一實驗室各組實驗互不干擾。

　　應(yīng)用本儀器可以完成以下實驗：

　　1. 光的偏振現(xiàn)象的觀察和分析，加深對光偏振規(guī)律的認識。掌握獲得線偏振光的知識及確定偏振片偏振方向的方法。

　　2. 用布儒斯特定律，測量對可見光透明固體材料的折射率。

　　3．通過測量偏振光二個分量入射到介質(zhì)上反射光的反射系數(shù)，測量半導體硅等材料的折射率。

　　儀器主要技術(shù)參數(shù)：

　　1. 半導體激光器 波長650nm，功率 1.5-2.0mW，工作電壓3V。

　　2. 轉(zhuǎn)盤 直徑為2.0cm，可調(diào)范圍0-360°，分度值1°。

　　3．水平光學轉(zhuǎn)臺 可 0-360゜轉(zhuǎn)動，分度值 1°。

　　4．數(shù)字式光功率計 量程有200uW和2mW二檔，三位半液晶顯示。

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