HP系列四探針探頭
HP-501型四探針探頭 HP-504型四探針探頭
HP系列四探針探頭是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭,可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
特性及規(guī)格:
1 | 特制之手握式探筆 |
2 | 球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷 |
3 | 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測(cè)試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞 |
4 | 探頭使用壽命長(zhǎng) |
5 | 探針間距:1mmm、1.59mm、3.8m;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ |
可選配的型號(hào)及規(guī)格:
型號(hào) | 曲率半徑 | 壓力 | 探針間距 | 探針排列 |
HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直線 |
HP-502 | 0.75mm | 100g | 3.8mm | 直線 |
HP-503 | 0.1mm | 150g | 1mm | 直線 |
HP-504 | 0.5mm | 100g | 1.59mm | 直線 |








































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