鼎極天膜厚測試儀X射線衍射裝置
 　簡單地說螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質(zhì)中的結晶信息。

  具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽（NaCl）時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉（Na）和氯（Cl）構成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由（NaCl）的結晶構成。單純地看也許會認為能知道結晶狀態(tài)的X射線衍射裝置（XRD為好,但當測定含多種化合物的物質(zhì)時只用衍射裝置（XRD）就很難判定,必須先用螢光X射線裝置（XRF）得到元素信息后才能進行定性。
主要特點

鼎極天膜厚測試儀技術參數(shù)

可測元素：Ti～U

X射線管：管電壓45KV，管電流1mA

檢測器：比例計數(shù)管

樣品觀察：CCD攝像機

對焦方式：激光自動對焦

測定軟件：薄膜FP法、檢量線法

準直器：2個（0.1mm，0.025*0.3mm）

安全機能：測量室門自鎖功能

Z軸防沖撞功能

儀器自診斷功能

SII的產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息（組成和鍍層厚度）的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結晶信息（構造）。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學照片。另外也用于機場的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。

簡單地說螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質(zhì)中的結晶信息。

鼎極天膜厚測試儀原理
  采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。