inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測試機應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片溫度測試

上海伯東 inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測試機可與愛德萬 advantest，泰瑞達 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程機聯(lián)用，進行半導(dǎo)體芯片高低溫測試。半導(dǎo)體芯片溫度測試主要是做芯片的溫度沖擊和溫度循環(huán)測試。
上海伯東客戶某半導(dǎo)體廠商選用 inTEST-Temptronic thermostream ATS-710-M 高速溫度測試機，

inTEST-Temptronic  ATS-710-M 提供循環(huán)測試溫度：-80°C 至 +225°C，每秒可快速升溫/降溫 18 °C，成功完成芯片的高低溫循環(huán)測試，疲勞失效測試。上海伯東作為 inTEST 中國地區(qū)總代理，全權(quán)負責(zé)其新品銷售和售后維修服務(wù)。
inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode，溫度顯示精度：±1°C (通過美國國家標準與技術(shù)研究院 NIST 校準) ，不需要液態(tài)氮氣 (N2) 或液態(tài)二氧化碳 (CO2)冷卻。
鑒于信息保密，更詳細的 Temptronic thermostream 半導(dǎo)體芯片溫度測試應(yīng)用案例，歡迎：


上海伯東客戶現(xiàn)場圖片：

inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 創(chuàng)立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收購，成為在美國設(shè)立的超高速溫度環(huán)境測試機的家制造商。而 Thermonics 創(chuàng)立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收購，使 inTEST 更強化高低溫循環(huán)測試以及溫度沖擊測試領(lǐng)域的實力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發(fā)技術(shù)發(fā)展出*的溫度環(huán)境測試機，將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速溫度環(huán)境測試系列產(chǎn)品。上海伯東作為 inTEST 中國總代理，全權(quán)負責(zé)  inTEST 新品銷售和售后維修服務(wù)。
 

上海伯東主營真空品牌:德國 Pfeiffer 真空設(shè)備;美國 Brooks Polycold 冷凍機;美國 KRI 考夫曼離子源;美國 HVA 真空閘閥:美國 inTEST(Temptronic)高低溫循環(huán)試驗機;日本 NS 離子蝕刻機等。

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