相控陣探傷儀通過軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。相控陣探傷儀相控陣工作原理超聲相控陣定義通過軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。相控陣探傷儀相控陣探傷儀TOFD探傷儀,TOFD證書,測厚儀,粗糙度儀,硬度計(jì),,紅外線熱像儀等儀表設(shè)備產(chǎn)品。常見的探頭陣列幾何外形如下：線形陣1.維線形陣2.維矩形陣圓形陣1.維環(huán)形陣2.維扇形陣相控陣探傷儀技術(shù)優(yōu)勢1.實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會(huì)誤判或漏判缺陷；2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，詳情>>
相控陣探傷儀價(jià)格
