孔徑測量儀是一種用于信息科學(xué)與系統(tǒng)科學(xué)、力學(xué)、物理學(xué)、工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科領(lǐng)域的分析儀器，于2016年11月1日啟用?？讖綔y量儀技術(shù)指標(biāo)波長范圍：370nm-1050nm；單次測量時(shí)間：一般全波長測量小于10秒；光源：穩(wěn)定鹵鎢燈；樣品尺寸：≤150毫米；薄膜厚度：0–3000納米；孔隙率測量范圍：0–95%.孔徑大小及分布：0.5–40納米；楊氏模量測量范圍（孔隙率10%以上多料）：1-5GPa。[1]孔徑測量儀主要功能薄膜納米孔徑分析儀GAM-100，是臺(tái)在常溫常壓狀態(tài)下，對(duì)檢測樣品無損害基礎(chǔ)上，表征納米級(jí)多孔材料的儀器。無需真空系統(tǒng)的設(shè)計(jì)使得每個(gè)樣品整個(gè)吸附、脫附測試可以在幾分鐘內(nèi)完成。詳情>>
孔徑測量儀價(jià)格
