詳細摘要: FILMETRICS利用反射式光譜測量技術,通過對薄膜上表面和下表面的反射光進行光譜分析,幾秒內即可測出透明薄膜的厚度(zui多四層)、光學參數(shù)(n和k)及粗糙...
產品型號:F20所在地:更新時間:2018-05-15 在線留言
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主營產品:高速偏振態(tài)分析儀;偏振分析儀;穩(wěn)偏儀;擾偏儀;偏振控制器;PMD仿真儀;PMD測量儀;PMD分析儀;光纖延遲線;膜厚測量儀;薄膜厚度測量儀;激光光束分析儀;光束分析儀;激光光束質量分析儀;飛秒光纖激光器;玻璃應力測量儀;塑料應力測量儀
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