武漢維思特科技有限公司
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號SPA4000
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地武漢市
聯(lián)系方式:張文輝查看聯(lián)系方式
更新時間:2018-05-15 16:09:04瀏覽次數(shù):3680次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)一、主要測試功能:1薄膜及波導(dǎo)折射率/厚度/光損測量2體材料折射率的測量3薄膜及體材料的雙折射測量4液體折射率的測量5折射率隨溫度變化的測量分析6折射率隨深度變化的測量分析
| 測量對象 | 具體內(nèi)容 | |
| 折射率 | 折射率測量范圍 | 1.0 to 2.45 |
| 折射率精度 | 0.001 | |
| 折射率分辨率 | ±0.0005 | |
| 厚度 | 厚度測量范圍 | 0.4?-20? |
| 厚度精確度 | ±0.5% | |
| 厚度分辨率 | ±0.01? | |
| 體材料 (僅測折射率) | 折射率精度 | 0.0005 |
| 折射率分辨率 | ±0.0001 | |
| 厚薄膜 | 厚度測量范圍 | 2?-150? |
| 液體 (僅測折射率) | 折射率測量范圍 | 1.0 to 2.4 |
| 折射率精度 | ± 0.0005 | |
| 熱光系數(shù) | 溫度測試范圍 | 室溫-150℃ |
| 波導(dǎo)損耗測量 | 測量限度 | below 0.05dB/cm |
| 薄膜類型 | 稱底類型 | |
| Silicon Nitride | Silicon | |
| Silicon Dioxide | Silicon Oxynitride | GaAs |
| Low-k films | Polymers | Quartz |
| Polyimides | ITO | Glass |
| Zinc Sulfide | Titanium Dioxide | Sapphire |
| Sapphire | Epi Garnet | GGG |
| Photoresists | Holographic Gels | Lithium Niobate |
| 薄膜類型和折射率 | 厚度和折射率一起測量 | 僅測量厚度 |
| 硅基上的二氧化硅(n=1.46) | 0.48-15mm | 0.20-0.48mm |
| 硅基上的光刻膠(n=1.63) | 0.42-15mm | 0.18-0.42mm |
| 二氧化硅上的光刻膠(n=1.63) | 0.70-15mm | 0.30-0.70mm |
| 硅基上的聚酰亞胺(n=1.72) | 0.38-15mm | 0.15-0.38mm |
| 二氧化硅上的聚酰亞胺(n=1.72) | 0.50-15mm | 0.16-0.50mm |
| 硅基上的氮氧化硅(n=1.80) | 0.35-15mm | 0.14-0.35mm |
| 二氧化硅上的氮氧化硅(n=1.80) | 0.45-15mm | 0.13-0.45mm |
| 硅基上的氮化硅(n=2.0) | 0.32-15mm | 0.12-0.32mm |
| 二氧化硅上的氮化硅(n=2.0) | 0.30-15mm | 0.15-0.30mm |
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主營產(chǎn)品:AFCID單纖光纜識別儀;偏振相關(guān)損耗測試設(shè)備;消光比測試儀;偏振膜色散仿真儀;偏振擾偏器;偏振分析儀;偏振PDL/IL/RL測試儀;偏振控制器等;LED性能綜合測試儀;棱鏡耦合測試儀;膜厚測試儀;AWG 芯片和模塊;1N splitter芯片和模塊;各種光學(xué)、半導(dǎo)體自動切割刀片(樹脂和金屬材料);提供半導(dǎo)體高精度(3微米)自動檢測包裝設(shè)備方案
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