東莞市一品儀器設(shè)備有限公司
會員1.png)
東莞市一品儀器設(shè)備有限公司
暫無信息 |
閱讀：312發(fā)布時(shí)間：2022-11-30
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products--
Temperature testing equipments
2008-06-16 發(fā)布2009-03-01 實(shí)施
中華人民共和國發(fā)布
中 國
目次
前言II
1范圍1
2規(guī)范性引用文件1
3術(shù)語和定義1
4檢驗(yàn)項(xiàng)目1
5檢驗(yàn)用主要儀器及要求2
6檢驗(yàn)負(fù)載2
7檢驗(yàn)條件2
8檢驗(yàn)方法2
9數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果7
10檢驗(yàn)周期8
附錄 A （規(guī)范性附錄） 檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇9
前言
GB/T 5170包含以下部分：
——GB/T 5170.1－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
——GB/T 5170.2－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
——GB/T 5170.5－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
——GB/T 5170.8－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
——GB/T 5170.9－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
——GB/T 5170.10－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
——GB/T 5170.11－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
——GB/T 5170.13－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動臺
——GB/T 5170.14－1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗(yàn)用電動振動臺
——GB/T 5170.15－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗(yàn)用液壓振動臺
——GB/T 5170.16－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)
——GB/T 5170.17－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
——GB/T 5170.18－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
——GB/T 5170.19－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備
——GB/T 5170.20－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備本部分是GB/T 5170的第2部分。
本部分代替GB/T 5170.2－1996。與GB/T 5170.2－1996相比技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：
——標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備"更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備"；
——所有用詞“檢定"更改為“檢驗(yàn)"；
——增加了“術(shù)語和定義"一章；
——增加了“溫度波動度"檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“溫度均勻度" 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“每 5min 溫度平均變化速率" 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“溫度指示誤差" 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“溫度過沖量" 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“溫度過沖恢復(fù)時(shí)間" 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——增加了“噪聲" 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——刪除了“相對濕度" 檢驗(yàn)項(xiàng)目；
——在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求"一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2）
的要求；
——增加了“檢驗(yàn)負(fù)載"一章；
——修改了“溫度變化速率"的計(jì)算方法；
——測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；
——刪除了“檢定過程中的處理"部分；
——附錄 A“測量記錄表格示例"更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇"；
——刪除了附錄 B “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法"。附錄A為規(guī)范性附錄。
本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 8)提出并歸口。本部分起草單位：電子第五研究所。
本部分主要起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況：
——GB/T 5170.2-1985；GB/T 5170.3-1985；GB/T 5170.4-1985；
——GB/T 5170.2-1996。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
1范圍
GB/T 5170的本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。
本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。
本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件， 其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本部分。
GB/T 2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫（GB/T 2423.1－2001， idt IEC 60068－2－1：1990）
GB/T 2423.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫（GB/T 2423.2－2001， idt IEC 60068－2－2：1974）
GB/T 2423.22 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化（GB/T 2423.22－ 2002， IEC 60068－2－14：1984，IDT）
GB/T 2424.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（GB/T 2424.5－2006， IEC 60068－3
－5：2001，IDT）
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
GB/T 16839.1 熱電偶第1部分：分度表（GB/T 16839.1－1997， idt IEC 60584－1：1995） IEC 60751 工業(yè)鉑電阻敏感元件
3術(shù)語和定義
本部分采用GB/T 5170.1-2008規(guī)定的術(shù)語和定義。
4檢驗(yàn)項(xiàng)目
本部分的檢驗(yàn)項(xiàng)目如下：
——溫度偏差；
——溫度波動度；
——溫度均勻度；
——風(fēng)速；
——溫度變化速率；
——每 5min 溫度平均變化速率；
——溫度恢復(fù)時(shí)間；
——溫度指示誤差；
——溫度過沖量；
——溫度過沖恢復(fù)時(shí)間；
——噪聲。
5檢驗(yàn)用主要儀器及要求
5.1溫度測量儀器
采用由鉑電阻、熱電偶傳感器及二次儀表組成的溫度測量系統(tǒng)，其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2） 不大于被檢溫度允許偏差的1/3。
鉑電阻傳感器應(yīng)符合IEC 60751的等級A，熱電偶傳感器應(yīng)符合GB/T 16839.1。
傳感器在空氣中的50％響應(yīng)時(shí)間應(yīng)在10s～40s之間，溫度測量系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間應(yīng)小于40s。當(dāng)測量溫度變化速率時(shí)，溫度測量系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間應(yīng)小于5s。
5.2風(fēng)速測量儀器
采用各種風(fēng)速儀，其感應(yīng)量不大于0.05m/s。
5.3噪聲測量儀器
帶A計(jì)權(quán)網(wǎng)絡(luò)的聲級計(jì)，其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2）不大于1dB。
6檢驗(yàn)負(fù)載
按GB/T 5170.1-2008第7章的規(guī)定（或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定）。
7檢驗(yàn)條件
7.1受檢試驗(yàn)設(shè)備在檢驗(yàn)時(shí)的氣候條件、電源條件、用水條件和其他條件應(yīng)符合 GB/T 5170.1-2008 第 4 章的規(guī)定。
7.2受檢試驗(yàn)設(shè)備的外觀和安全要求應(yīng)符合 GB/T 5170.1-2008 第 8 章的規(guī)定。
8檢驗(yàn)方法
8.1測量點(diǎn)數(shù)量及位置
8.1.1溫度偏差、溫度波動度、溫度均勻度、溫度指示誤差、風(fēng)速的測量點(diǎn)數(shù)量及位置
8.1.1.1根據(jù)試驗(yàn)設(shè)備容積的大小，將工作空間分為上、中、下三層，中層通過工作空間幾何中心點(diǎn)。將一定數(shù)量的溫度傳感器布放在其中規(guī)定的位置上，傳感器不應(yīng)受冷熱源的直接輻射。
8.1.1.2測量點(diǎn)分別位于上、中、下三層。
8.1.1.3溫度測量點(diǎn)用英文字母 O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U 表示。
8.1.1.4測量點(diǎn) O 為設(shè)備工作空間的幾何中心點(diǎn)，其它各測量點(diǎn)的位置與設(shè)備內(nèi)壁的距離為工作室各自邊長的 1/10(遇有風(fēng)道時(shí)，是指與送風(fēng)口和回風(fēng)口的距離)，但距離不大于 500mm，最小距離不小于 50mm。如果設(shè)備帶有樣品架或樣品車時(shí)，下層測量點(diǎn)可布放在樣品架或樣品車上方 10mm 處。
8.1.1.5風(fēng)速測量點(diǎn)與溫度測量點(diǎn)的數(shù)量與布放位置相同。
8.1.1.6試驗(yàn)設(shè)備容積小于或等于 2m3 時(shí)，溫度測量點(diǎn)為 9 個(gè)，布放位置如圖 1 所示。
8.1.1.7試驗(yàn)設(shè)備容積大于 2m3 時(shí)，溫度測量點(diǎn)為 15 個(gè)，布放位置如圖 2 所示。
8.1.1.8當(dāng)試驗(yàn)設(shè)備容積小于 0.05m3 或大于 50m3 時(shí)，可適當(dāng)減少或增加測量點(diǎn)。
8.1.1.9根據(jù)試驗(yàn)和檢驗(yàn)的需要，可在試驗(yàn)設(shè)備工作空間增加對疑點(diǎn)的測量。本站數(shù)據(jù)只是網(wǎng)上收集數(shù)據(jù)僅供參考
儀表網(wǎng) 設(shè)計(jì)制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗(yàn)證碼