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ME-L 穆勒矩陣橢偏儀概述ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術(shù)多年的投入,其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù),包括消色差補償...
SE-VM光譜橢偏儀E-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可實現(xiàn)科研/企業(yè)級高精度快速光譜橢偏測量,支持多角度,微光斑,可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置,多功...
SE-VE光譜橢偏儀SE-VE是一款高性價比快速測量光譜橢偏儀。高性價比光學(xué)橢偏測量解決方案緊湊集成設(shè)計,使用簡便,一鍵快速測量向?qū)Ы换ナ饺藱C界面,便捷的軟件操...
SE-L光譜橢偏儀SE-L是一款科研級全自動高精度快速光譜型橢偏儀,可通過橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測量,實現(xiàn)光學(xué)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析。適用于各向同性薄...
SE-Mapping光譜橢偏儀概述SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動Mapping...
PMS 橢偏在線監(jiān)測裝備針對LCD、OLED等新型平板顯示量產(chǎn)中所涉及的PI配向膜、光刻膠薄膜、ITO薄膜、有機發(fā)光薄膜、有機/無機封裝薄膜等質(zhì)量控制需要,專門...
SE-PV光伏橢偏儀價格產(chǎn)品概述SE-PV 是一款光伏行業(yè)領(lǐng)域型光譜橢偏儀,針對光伏行業(yè)絨面單晶硅或多晶硅太陽能電池表面減反膜測量定制開發(fā),快速實現(xiàn)薄膜物性表征...
SE-Glass 光譜橢偏儀價格產(chǎn)品概述SE-Glass 是一款針對玻璃蓋板行業(yè)定制的型光譜橢偏儀,針對玻璃蓋板光學(xué)鍍膜行業(yè)通過集成微光斑+可視化調(diào)平系統(tǒng)儀消除...
全自動橢偏檢測機臺價格產(chǎn)品概述頤光科技全自動橢偏檢測機臺作為一種小型橢偏集成機臺,通過整體高度模塊化,電、氣路集成技術(shù),實現(xiàn)不同橢偏測量模塊在線/離線式整體橢偏...
RT-V 系列反射透射測量儀價格采用進口氘鹵二合一光源,結(jié)合高性能分光光譜儀,可測量獲得紫外到近紅外光譜范圍樣品的反射率和穿透率光譜,并進一步計算獲得樣品色坐標...
SR-C反射膜厚儀價格SR-C反射膜厚儀是超快速薄膜表征儀器, 通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干形成的反射譜,測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。
原位監(jiān)測橢偏儀IMS型是在科研級光譜橢偏儀的基礎(chǔ)上,根據(jù)有機/無機鍍膜工藝研究的需要研發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測儀器,可用于金屬薄膜、無機薄膜、有機薄膜的蒸鍍、濺射等...
寬光譜成像光譜橢偏儀IE-L系列是結(jié)合單/雙旋轉(zhuǎn)補償器橢偏調(diào)制技術(shù)和光學(xué)成像技術(shù),實現(xiàn)對薄膜和納米結(jié)構(gòu)的實時可視化分析測量??赏瑫r高橫向分辨率的得到視場內(nèi)樣品上...
自動光譜橢偏儀SE-L型是一款科研級全自動高精度光譜橢偏儀,集眾多頤光科技技術(shù)于一體,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動測量模塊。通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參...
自動光譜橢偏儀SE-L型是一款科研級全自動高精度光譜橢偏儀,集眾多頤光科技技術(shù)于一體,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動測量模塊。通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參...
光譜橢偏儀SE-VE型是一款高性價比快速測量光譜橢偏儀,可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量,快速實現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料的快...
光譜橢偏儀SE-VM型是一款科研級高精度快速測量光譜橢偏儀,可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量,快速實現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料...
光譜橢偏儀Mapping系列是全自動高精度Mapping繪制化測量光譜橢偏儀,集眾多頤光科技技術(shù)于一體,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動Mapping測量模塊。...
全自動Mapping光譜橢偏儀SE-100A是全自動高精度Mapping繪制化測量光譜橢偏儀,集眾多頤光科技技術(shù)于一體,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動Mapp...
寬光譜穆勒矩陣橢偏儀ME-L型是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀,可通過反射/透射率、橢偏參數(shù)、穆勒矩陣和退偏指數(shù)等參數(shù)測量,實現(xiàn)各種光學(xué)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的...
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