深圳市威福光電科技有限公司
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閱讀：49發(fā)布時(shí)間：2023-5-3
膜厚儀的精度要求非常高，因?yàn)檐圀w的涂層厚度需要非常精細(xì)的范圍。而為了保證涂層能夠發(fā)揮正常的作用，我們必須選擇有精度要求的膜厚儀。
影響測(cè)厚儀測(cè)量值精度的因素主要就有以下幾點(diǎn)：
1、基體金屬磁性質(zhì)。
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，也可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬電性質(zhì)。
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
3、基體金屬厚度。
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
4、邊緣效應(yīng)。
儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此，在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
5、曲率。
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
6、試件的變形。
側(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此，在這些試件上測(cè)出的數(shù)據(jù)不可靠。
7、表面粗糙度。
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度越大，影響越大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解出去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
8、周圍磁場(chǎng)。
周圍各種電器設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
9、測(cè)頭壓力。
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
10、測(cè)頭的取向。
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直，這是使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定。
11、讀數(shù)次數(shù)。
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。
12、表面清潔度。
測(cè)量前，應(yīng)清楚表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
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