6332A/B 光回波損耗測試儀

6332A/B 光回波損耗測試儀產(chǎn)品綜述：

6332A/B光回波損耗測試儀內(nèi)置2×2光開關，可快速實現(xiàn)光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時，不需要在光纖末端進行纏繞操作或使用匹配液，顯著提高光回波損耗測試效率。通過內(nèi)置激光器功率檢測模塊，實現(xiàn)光插入損耗準確測試。產(chǎn)品廣泛應用于光纖通信科研、教學和生產(chǎn)領域。

功能特點：

主要特點

•   回損測量無需纏繞或使用匹配液

•   適應不同產(chǎn)品的端面回損測試，待測光纖跳線短至70cm

•   全自動雙波長光插回損同時測試

•   單向和雙向測試，縮短測試時間

•   設定不同插回損閾值

•   同時顯示插回損測試結果

•   保存參考和待測的測試結果，測試裝置不變的話，可以直接調(diào)用保存的參考數(shù)據(jù)

回損測量無需纏繞或使用匹配液

 儀器采用光時域反射技術，區(qū)別于傳統(tǒng)的光連續(xù)波反射技術，相應地避免了光回波損耗測量過程中的纏繞或者使用匹配液，提高了測試效率。

適應不同產(chǎn)品的端面回損測試，待測光纖跳線短至70cm

不同型號儀器測試的回波損耗分別能低至14dB和高達80dB，這樣，可以根據(jù)產(chǎn)品回波損耗值來選擇不同型號的儀器。儀器設計了窄脈寬的激光器脈沖光驅動電路，當待測光回波損耗超過40dB時，待測光纖跳線可短至70cm。

全自動雙波長光插回損同時測試

 測試過程中，選中雙波長之后，參考測試可顯示雙波長的輸出光功率，待測件測試可顯示雙波長的光插入損耗和光回波損耗測試結果。

單向和雙向測試，縮短測試時間

 儀器通過內(nèi)置2×2光開關，可以從不同輸出端口輸出脈沖光，從而實現(xiàn)單雙向測試功能。雙向測試時，一次連接光纖跳線的兩個端面，一次測試即可測出跳線的光插入損耗和這兩個端面的光回波損耗，從而使測試時間減半。

設定不同插回損閾值

       進入儀器設置測試條件界面，在插入損耗閾值和回波損耗閾值后面的窗口中輸入相應的數(shù)值，那么在測試結果中插入損耗高于閾值和回波損耗低于閾值會顯示為紅色，其他為藍色。

典型應用：

如下圖所示，使用6332A/B光回波損耗測試儀同時測試FC/APC—FC/APC型跳線的光插入損耗和光回波損耗。

    對6332A/B光回波損耗測試儀進行參考測試之后，接入待測跳線，點擊測試鍵，

即可測出待測光纖跳線的光插入損耗和光回波損耗。

技術指標：