鉑瑞達(dá)（北京）科技有限公司
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閱讀：64發(fā)布時(shí)間：2026-2-23
在清潔度分析過(guò)程中，必須盡可能快地找出污染源。徠卡顯微系統(tǒng)推出的清潔度專家解決方案現(xiàn)可為您提供更深入的顆粒物分析。它不僅能對(duì)顆粒物執(zhí)行自動(dòng)檢測(cè)、計(jì)數(shù)、分析和分類(lèi) (按照其導(dǎo)致?lián)p害的危險(xiǎn)度)，還能同時(shí)確定顆粒物的成分。如今，您在搜尋污染源時(shí)可節(jié)省 90% 的時(shí)間。此外，您可在同一工作場(chǎng)所完成全部分析。
這樣有什么意義呢？
您可在數(shù)秒鐘內(nèi)掌握所有相關(guān)信息，找出影響產(chǎn)品性能和壽命的顆粒物的來(lái)源。您可更快地消除這些顆粒物，以符合日趨嚴(yán)格的 VDA 19 和 ISO 標(biāo)準(zhǔn)。在定位顆粒物來(lái)源上節(jié)省時(shí)間也能促成更具經(jīng)濟(jì)效益的清潔度分析。
將顯微技術(shù)與激光光譜技術(shù)相結(jié)合。運(yùn)行徠卡清潔度專家軟件的 DM6 M 顯微鏡中集成了 LIBS (激光誘導(dǎo)擊穿光譜) 系統(tǒng)。這種二合一解決方案允許您使用同一臺(tái)儀器執(zhí)行視覺(jué)和化學(xué)分析。
由此，您可將清潔度分析流程縮減為一步，并避免使用電子顯微鏡 (SEM/EDS) 等手段執(zhí)行代價(jià)高昂的下游分析。
利用快捷的化學(xué)分析更快地找出污染源
在內(nèi)部完成所有步驟，省時(shí)省錢(qián)
盡量減少甚至不用 SEM/EDS 進(jìn)行深入分析
- 無(wú)需額外的濾片樣品制備或轉(zhuǎn)移到其它設(shè)備
- 無(wú)需重新定位感興趣區(qū)域或調(diào)節(jié)系統(tǒng)
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