鉑瑞達(dá)（北京）科技有限公司
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閱讀：78發(fā)布時間：2026-2-24
“哪種分析儀我的應(yīng)用？"
我們經(jīng)常被問到這個問題。答案在很大程度上取決于您正在執(zhí)行的分析類型、您需要的準(zhǔn)確度以及您正在分析的組件類型。當(dāng)您的應(yīng)用是測量PCB、半導(dǎo)體和電子器件連接器上的鍍層厚度時，我們的回答始終是“您需要了解FT160"。
當(dāng)談到分析時，電子器件是一項挑戰(zhàn)。的障礙是這些部件的尺寸非常小。因此您需要一臺具有小光點尺寸的超高精度儀器。盡管這些部件的尺寸可能很小，但PCB或晶片的尺寸可能相當(dāng)大。這表明簡單地找到您所需測量的部件非常耗時。
在考慮這些挑戰(zhàn)的基礎(chǔ)上開發(fā)了FT160。FT160專為測量大型組件的微小部件上的鍍層而設(shè)計，包括一系列使鍍層質(zhì)量控制在生產(chǎn)中變得更加容易的部件。
下文介紹了其中一些部件以及其有所幫助的原因：
FT160配備有創(chuàng)新型毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)，可產(chǎn)生30µm的高強(qiáng)度光束，用于精確測量半導(dǎo)體晶片和超小型組件的最小部件。毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)已設(shè)計成可大幅減少不需要的“光暈效應(yīng)"，這種光暈效應(yīng)會導(dǎo)致一些高能測量中不符合需要的光點尺寸增加。
XRF儀器中的探測器不僅能決定測量對象，還能決定獲得結(jié)果的速度。探測器越靈敏，精度越高，則測量時間越短。FT160配備有高靈敏度SDD探測器，可輕松分辨組件不同層中存在的多種元素，并有效地將舊技術(shù)的計數(shù)率提高一倍，從而確保快速獲得準(zhǔn)確結(jié)果。
正如前文所述，有時簡單地找到合適的測量區(qū)域可能充滿困難。如果光源不太好，則可能會導(dǎo)致更大的挑戰(zhàn)，因為您可能認(rèn)為您正在測量正確的點，但這實際上（真實情況）是光線造成的錯覺。FT160采用環(huán)形和同軸光源的組合，以減少可能導(dǎo)致測量誤差的模糊陰影和反射。
16倍數(shù)字變焦的高分辨率相機(jī)
在上述光源的幫助下，我們在FT160中納入一臺高分辨率相機(jī)。這款高質(zhì)量相機(jī)可變焦16倍，將失真降至，因此您可清晰、準(zhǔn)確地查看半導(dǎo)體或PCB表面。這使得FT160更加易于使用，并有助于加快樣品裝載時間。
FT160具有智能控制器軟件，可自動定位精確的測量點。僅需在屏幕上識別測量點，隨后儀器將進(jìn)行分析，并使用圖案和形狀匹配技術(shù)找到正確位置。
為您的特定應(yīng)用選擇配置方案
FT160配備有便于裝載樣品的大型樣品門以及可容納尺寸為400x300x100mm的各種樣品的大型樣品艙。這種尺寸非常適合微型連接器和引線框架。但是，如果您需要測量大型零部件，例如PCB，您可選擇能容納尺寸為600mmx600mm的電路板或組件的大型樣品艙。
符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
值得一提的是，使用FT160作為測量方法將滿足ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987標(biāo)準(zhǔn)以及許多IPC規(guī)范的要求，包括IPC-4552A和IPC-4556。
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