當(dāng)前位置:無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司>>技術(shù)文章>>你知道X熒光光譜儀是如何定量分析的嗎?
X熒光光譜儀主要由一個光學(xué)平臺和一個檢測系統(tǒng)組成。下面,創(chuàng)想儀器就來簡要介紹一下它包含的幾個主要部分。
熒光光譜儀的構(gòu)成:
1. 色散元件: 通常采用光柵,使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。
2. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像,其中每一像點(diǎn)對應(yīng)于一特定波長。
3. 探測器陣列:放置于焦平面,用于測量各波長像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。
4. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。
5. 準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻T摐?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上,如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

X熒光光譜儀構(gòu)造
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