X熒光光譜儀的探測器可分為高、中、低三擋，三種不同的探測器性能也有所不同。

高檔探測器可以同時對不同濃度所有元素（一般從Na至U）進行檢測，分辨率一般在150－180eV?？赏瑫r測定元素周期表中Na-U范圍的任何元素。對痕量檢測可達幾個ppm量級。

前面那兩檔檢測器，不能符合RoHS的要求，很多生產(chǎn)xrf的公司都宣稱他們的儀器能對Na到U元素進行檢測，但測試的時候能把na到u元素分開嗎，我們都知道相鄰元素會互相干擾，如果干擾了，你說做出來的數(shù)據(jù)會準確嗎？

中檔探測器有效檢測元素數(shù)量稍多，對痕量元素較難檢測，分辨率一般在200－300eV，一般用于檢測的對象元素不是相鄰元素，元素相鄰較遠（至少相隔1-2個元素以上），基體內(nèi)各元素間影響較小。

低檔探測器有效檢測元素數(shù)量少，對被測物質(zhì)中微量元素較難檢測，分辨率一般在700－1100eV，一般可分析材料基體中元素數(shù)量較少，元素間相鄰較遠，含量較高的單個元素。

SiPIN探測器、高純硅晶體探測器的分辨率一般是200eV–270eV，電致冷或液氮致冷Si（Li）鋰漂移硅晶體探測器的分辨率為140eV–165eV.電制冷不需要消耗液氮，但他制冷工藝復(fù)雜，價格也zui貴，靠消耗電來制冷，分辨率比液氮稍遜，但也符合rohs檢測的要

求。液氮制冷需消耗液氮，使用起來不方便，但液氮的溫度很低，操作者必須注意安全，但它的分辨率比電制冷稍好。這里我們還要看探測器的面積，探測器面積越大，效率越高。測試的時間就越短。市面上探測器面積有5—15mm2不等。很多XRF廠商都宣稱他們

的儀器測試時間是3分鐘，是出一個可靠的數(shù)據(jù)3分鐘嗎，還是減少測試條件，具體指減少濾光片的轉(zhuǎn)換次數(shù)和livetime來達到減少測試時間。的確很多XRF的測試時間能達到3分鐘，但出的數(shù)據(jù)是很差的。只有極少數(shù)儀器能達到這個水平。測試時間對RoHS這個行業(yè)

也是很重要的，因為很多廠家的需檢測的產(chǎn)品比較多，一天可能有300多個，甚至更多。

如果購買了了一臺低效率的X熒光光譜儀，你可能要再買幾個才能滿足你的測試量。