臺(tái)式X熒光光譜儀非真空能量色散X熒光光譜儀：

EDX-6000X熒光光譜儀融合經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）等分析方法，測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性能得到全面保證。

EDX-6000X熒光光譜儀經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法：儀器依據(jù)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的測(cè)定，確定影響系數(shù)。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品要求高，需和待測(cè)樣品類型相近，校正模型簡(jiǎn)單。

EDX-6000X熒光光譜儀基本參數(shù)法（FP法）：儀器根據(jù)實(shí)際檢測(cè)物質(zhì)，通過對(duì)多種物理量建模計(jì)算確定參數(shù)。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品要求不高，計(jì)算較復(fù)雜，適合缺少對(duì)應(yīng)標(biāo)樣的物質(zhì)檢測(cè)。

軟件功能

元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%

采用BG內(nèi)標(biāo)校正，提高非定性式樣測(cè)量精度

用戶自定義多曲線多光譜擬和分析方法

全自動(dòng)定量分析報(bào)告 簡(jiǎn)捷準(zhǔn)確

自適應(yīng)初試化校正

光譜的自動(dòng)獲取和顯示。

具有自動(dòng)檢測(cè)儀器工作狀態(tài)的功能。

自動(dòng)判別樣品及自動(dòng)分析。提供擴(kuò)展接口，進(jìn)一步作其他元素分析，從鈣到鈾元素。

硬件

美國(guó)進(jìn)口Si-PIN探測(cè)器，高速脈沖高度分析系統(tǒng)

美國(guó)SPELLMAN高壓發(fā)生器

美國(guó)進(jìn)口前置放大器，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好

美國(guó)進(jìn)口主放大器，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好

美國(guó)進(jìn)口AD轉(zhuǎn)換模塊，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好

尺寸＆重量

550（W）×450(D)×450(H)mm

60Kg（主機(jī)部分）

電源與環(huán)境要求

電源：220V±10％ 50Hz

環(huán)境溫度：10℃-28℃

環(huán)境濕度: ≤70 ％RH(25℃室溫)