可復(fù)制的結(jié)果

Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀可制備橫切面和拋光表面，用于掃描電子顯微鏡 (SEM)、微觀結(jié)構(gòu)分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。

使用 Leica EM TIX 3X，您幾乎可以在室溫或冷凍條件下，對任何材料實現(xiàn)高品質(zhì)的表面處理，盡可能顯示樣品近自然狀態(tài)下的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

帶來的便利！

效率

對于離子束研磨機的效率來說，真正重要的是同時具備出色的品質(zhì)結(jié)果和高產(chǎn)量。與前代版本相比，全新版本不僅切割速度提高了一倍，其的三離子束系統(tǒng)還優(yōu)化了制備質(zhì)量，并縮短了工作時間。一次可處理樣品多達 3 個， 并可在同一個載物臺上進行橫切和拋光。

工作流程解決方案可安全、高效地將樣品傳輸至后續(xù)的制備儀器或分析系統(tǒng)。

靈活的系統(tǒng) — 隨時滿足您的需求

憑借可靈活選擇的載物臺，Leica EM TIC 3X 不僅是進行高產(chǎn)量處理的理想設(shè)備，還適用于委托檢測的實驗室。根據(jù)您的需求，可選擇以下可互換的載物臺對 Leica EM TIC 3X 進行個性化配置：

• 標準載物臺
• 多樣品載物臺
• 旋轉(zhuǎn)載物臺
• 冷卻載物臺或
• 真空冷凍傳輸對接臺

用于制備標準樣品、高產(chǎn)量處理，以及在低溫條件下制備對高溫異常敏感的樣品，例如聚合物、橡膠或生物材料。