頂空進樣器是氣相色譜法中一種方便快捷的樣品前處理方法，其原理是將待測樣品置入一密閉的容器中，通過加熱升溫使揮發(fā)性組分從樣品基體中揮發(fā)出來，在氣液（或氣固）兩相中達到平衡，直接抽取頂部氣體進行色譜分析，從而檢驗樣品中揮發(fā)性組分的成分和含量。 頂空進樣器消除或減少基質(zhì)效應(yīng)的方法有哪些？
 

頂空進樣器分析實際應(yīng)用中一些消除或減少基質(zhì)效應(yīng)的方法： 
 

（1）頂空進樣器利用鹽析作用即在水溶液中加入無機鹽（如*）來改變揮發(fā)性組分的分配系數(shù)。實驗證明，鹽濃度小于5%時幾乎沒有作用，故常用高濃度的鹽，甚至用飽和濃度。需要指出的是，鹽析作用對極性組分的影響遠大于對非極性組分的影響。此外，在水溶液中加入鹽之后，溶液體積會變化，定量線性范圍可能變窄，這些都是在定量分析中應(yīng)該考慮的。 
 

（2）頂空進樣器在有機溶液中加入水當然，水要與所用有機溶劑相溶。這可以減小有機物在有機溶劑中的溶解度，增大其在頂空氣體中的含量。比如，測定聚合物中的2-乙基己基丙烯酸酯殘留量時，樣品溶于二甲基乙酰胺中，然后加入水，分析靈敏度可提高數(shù)百倍。

（3）調(diào)節(jié)溶液的pH 對于堿和酸，通過控制pH可使其解離度改變，或使其中待測物的揮發(fā)性變得更大，從而有利于分析。 
 

（4）固體樣品的粉碎物質(zhì)在固體中的擴散系數(shù)要比在液體中小1到2個數(shù)量級，固體樣品中揮發(fā)物的擴散速度很慢，往往需要很長時間才能達到平衡。盡量采樣小顆粒的固體樣品有利于縮短平衡時間。但是要注意，一般的粉碎方法會造成樣品損失。比如研磨發(fā)熱，揮發(fā)性組分就會丟失。故頂空GC中多用冷凍粉碎技術(shù)來制備固體樣品。同時，用水或有機溶劑浸潤樣品（三相體系），也可以減小固體表面對待測物的吸附作用。 此外，稀釋樣品也是減小基質(zhì)效應(yīng)的常用方法，但其代價是減低了靈敏度。其他消除基質(zhì)效應(yīng)的技術(shù)，如全揮發(fā)技術(shù)等。 
 

另外，頂空進樣器樣品中的水分也是一個影響因素。雖然靜態(tài)頂空樣品中水分含量常沒有動態(tài)頂空那么大，但水溶液樣品在濃度較高時，水蒸氣會影響GC分離結(jié)果，特別是采用冷凍聚焦技術(shù)時。故應(yīng)在色譜柱前連接除水裝置，如裝有氯化鈣、氯化鋰等吸附劑的短預(yù)柱。當然要保證被測組分不被吸附。